[发明专利]一种化学机械研磨方法有效

专利信息
申请号: 200910054375.5 申请日: 2009-07-03
公开(公告)号: CN101934494A 公开(公告)日: 2011-01-05
发明(设计)人: 孙涛 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: B24B37/04 分类号: B24B37/04;B24B57/02;H01L21/304
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 郑立柱
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 化学 机械 研磨 方法
【权利要求书】:

1.一种化学机械研磨方法,其特征在于,按照如下步骤确定研磨浆注入位置:

用至少三个规定厚度的同一种控片在研磨盘上以相同工艺研磨相同的时间,每个控片分别对应研磨盘的径向上距其中心不同距离的研磨浆注入位置;

测定每个控片的研磨速率;

选择平均研磨速率在控制的范围而且研磨速率偏差最小的控片;

根据所选择的控片对应的研磨浆注入位置注入研磨浆。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,测定每个控片的研磨速率时,在一个控片的任一直径上取至少三个点测量其研磨速率。

3.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述控片的厚度为至少1μm。

4.如权利要求1~3任一所述的方法,其特征在于,所述控片的厚度为1μm,所述控片在研磨盘上研磨的时间为1分钟。

5.如权利要求1~4任一所述的方法,其特征在于,所述控片材料与待研磨的材料相同。

6.如权利要求1~5任一所述的方法,其特征在于,在铜CMP中控片材料是铜。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,未经中芯国际集成电路制造(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910054375.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top