[发明专利]接触孔填充方法有效

专利信息
申请号: 200910054397.1 申请日: 2009-07-03
公开(公告)号: CN101937864A 公开(公告)日: 2011-01-05
发明(设计)人: 聂佳相;何伟业;刘盛;孔祥涛 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768;C23C14/14
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 李丽
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 接触 填充 方法
【权利要求书】:

1.一种接触孔填充方法,包括:

提供一个表面具有至少一个接触孔开口的衬底;

在接触孔的侧壁和衬底表面形成阻挡层;

其特征在于,还包括:

在阻挡层表面形成第一金属层,所述第一金属层的金属晶粒尺寸小于0.2微米;

在第一金属层表面形成第二金属层,直至填充所述接触孔。

2.如权利要求1所述的接触孔填充方法,其特征在于,所述第一金属层材料为铝,厚度为500纳米至2000纳米。

3.如权利要求1所述的接触孔填充方法,其特征在于,所述第一金属层的形成工艺为物理气相沉积工艺。

4.如权利要求1所述的接触孔填充方法,其特征在于,所述形成第一金属层的具体工艺为:反应温度为20摄氏度至150摄氏度,腔室压力为10毫托至18毫托,直流功率为10000瓦至40000瓦,氩气流量为每分钟2标准立方厘米至每分钟20标准立方厘米。

5.如权利要求1所述的接触孔填充方法,其特征在于,所述形成第一金属层的具体工艺为:反应温度为70摄氏度,腔室压力为10毫托至18毫托,直流功率为10000瓦至40000瓦,氩气流量为每分钟2标准立方厘米至每分钟20标准立方厘米。

6.如权利要求1所述的接触孔填充方法,其特征在于,所述第二金属层材料为铝,形成工艺为物理气相沉积工艺。

7.如权利要求1所述的接触孔填充方法,其特征在于,所述第二金属层的晶粒尺寸大于第一金属层。

8.如权利要求1所述的接触孔填充方法,其特征在于,所述形成第二金属层的具体工艺为:反应温度为250摄氏度至500摄氏度,腔室压力为10毫托至18毫托,直流功率为10000瓦至40000瓦,氩气流量为每分钟2标准立方厘米至每分钟20标准立方厘米。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,未经中芯国际集成电路制造(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910054397.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top