[发明专利]接触孔填充方法有效
申请号: | 200910054397.1 | 申请日: | 2009-07-03 |
公开(公告)号: | CN101937864A | 公开(公告)日: | 2011-01-05 |
发明(设计)人: | 聂佳相;何伟业;刘盛;孔祥涛 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;C23C14/14 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 李丽 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 接触 填充 方法 | ||
1.一种接触孔填充方法,包括:
提供一个表面具有至少一个接触孔开口的衬底;
在接触孔的侧壁和衬底表面形成阻挡层;
其特征在于,还包括:
在阻挡层表面形成第一金属层,所述第一金属层的金属晶粒尺寸小于0.2微米;
在第一金属层表面形成第二金属层,直至填充所述接触孔。
2.如权利要求1所述的接触孔填充方法,其特征在于,所述第一金属层材料为铝,厚度为500纳米至2000纳米。
3.如权利要求1所述的接触孔填充方法,其特征在于,所述第一金属层的形成工艺为物理气相沉积工艺。
4.如权利要求1所述的接触孔填充方法,其特征在于,所述形成第一金属层的具体工艺为:反应温度为20摄氏度至150摄氏度,腔室压力为10毫托至18毫托,直流功率为10000瓦至40000瓦,氩气流量为每分钟2标准立方厘米至每分钟20标准立方厘米。
5.如权利要求1所述的接触孔填充方法,其特征在于,所述形成第一金属层的具体工艺为:反应温度为70摄氏度,腔室压力为10毫托至18毫托,直流功率为10000瓦至40000瓦,氩气流量为每分钟2标准立方厘米至每分钟20标准立方厘米。
6.如权利要求1所述的接触孔填充方法,其特征在于,所述第二金属层材料为铝,形成工艺为物理气相沉积工艺。
7.如权利要求1所述的接触孔填充方法,其特征在于,所述第二金属层的晶粒尺寸大于第一金属层。
8.如权利要求1所述的接触孔填充方法,其特征在于,所述形成第二金属层的具体工艺为:反应温度为250摄氏度至500摄氏度,腔室压力为10毫托至18毫托,直流功率为10000瓦至40000瓦,氩气流量为每分钟2标准立方厘米至每分钟20标准立方厘米。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
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