[发明专利]腐蚀带有绝缘埋层的衬底边缘的方法有效

专利信息
申请号: 200910054627.4 申请日: 2009-07-10
公开(公告)号: CN101599452A 公开(公告)日: 2009-12-09
发明(设计)人: 王湘;魏星 申请(专利权)人: 上海新傲科技股份有限公司
主分类号: H01L21/762 分类号: H01L21/762;H01L21/306;H01L21/311
代理公司: 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 代理人: 翟 羽
地址: 201821*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 腐蚀 带有 绝缘 衬底 边缘 方法
【权利要求书】:

1.一种腐蚀带有绝缘埋层的衬底边缘的方法,其特征在于,包括如下步骤:提供带有绝缘埋层的衬底,所述带有绝缘埋层的衬底包括支撑层、绝缘埋层和顶层半导体层;

在衬底的正面和背面均形成覆盖层,所述正面是顶层半导体层一侧的表面,背面是与正面相对的另一面;

将衬底正面的覆盖层研磨除去;

将衬底的正面向下放置于旋转腐蚀载片平台上,将顶层半导体层的腐蚀液通至衬底背面的覆盖层并同时旋转衬底,使腐蚀液流通过衬底的边沿流淌到正面,腐蚀正面顶层半导体层的边缘部分,旋转腐蚀的旋转速率范围是每分钟50至1000圈;

将衬底的正面向上放置于旋转腐蚀载片平台上,将绝缘埋层腐蚀液通至衬底正面并同时旋转衬底,腐蚀除去衬底边缘由于顶层半导体层被腐蚀除去而露出的绝缘埋层,旋转腐蚀的旋转速率大于每分钟1200圈。

2.根据权利要求1所述的腐蚀带有绝缘埋层的衬底边缘的方法,其特征在于,所述顶层半导体层的材料为硅,腐蚀顶层半导体层的腐蚀液为四甲基氢氧化铵。

3.根据权利要求2所述的腐蚀带有绝缘埋层的衬底边缘的方法,其特征在于,腐蚀顶层半导体层的步骤中,四甲基氢氧化铵的浓度范围是5%至50%,流量范围是每分钟0.5至2.0升。

4.根据权利要求1所述的腐蚀带有绝缘埋层的衬底边缘的方法,其特征在于,所述绝缘埋层的材料为氧化硅,腐蚀液绝缘埋层的腐蚀液为氢氟酸。

5.根据权利要求4所述的腐蚀带有绝缘埋层的衬底边缘的方法,其特征在于,腐蚀绝缘埋层的步骤中,氢氟酸的浓度范围是5%至49%,流量范围是每分钟0.5至2.5升。

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