[发明专利]外部电源供应装置及其电源供应方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种外部电源供应装置及其电源供应方法，特别是涉及一种可以提供一同步于读卡装置输出电压时序的测试电压给一待测装置的外部电源供应装置及其电源供应方法。

背景技术

SD(secure digital)或Expresscard(由PCMCIA联盟推出的新规格，其优点是体积更小，传输速度更快，更适合移动系统)为接口的产品，具有速度快、体积小、耗电量低及易于发展等优点，于是以SD或Expresscard接口为设计基础的产品应用越来越广泛，功能也越来越多。如此，在SD(secure digital)或Expresscard产品开发的过程中，需外加许多电路于一SD(secure digital)或Expresscard待测装置中，用以辅助该待测装置的实验或测试。

但是，计算机内部的SD(secure digital)或Expresscard读卡装置所提供的电源供应能力有限，往往无法满足所有实验或测试时该待测装置所需的电源。在此情况下，容易导致测试环境不稳定或计算机无法识别该待测装置。

另外，SD(secure digital)或Expresscard产品通过读卡装置与计算机沟通时，本身在启动时不管数据传输或电源供应也都具有一定的启动程序，即使从外部直接供应电压给SD或Expresscard产品，仍会导致外部供电时序与计算机内部的读卡装置不一致，从而发生无法正常启动或启动后不正常动作的现象发生。

请参考图1，为传统接口产品的测试系统方块示意图。如图1所示，传统的测试系统，利用计算机(未标示)内或是连接于计算机的一读卡装置2直接连接一待测装置3，而该待测装置3的功能越多时，外围配合实验或测试的电路组件也会增加，因此，待测装置3整体的耗电也会增加。当整体耗电增加至读卡装置2所供应之电压V1无法负荷时，计算机就会发生装置识别错误或是待测装置3无法正常启动。

即便直接由外部直接供应电压给待测装置3，也会因外部供应电压的启动时序与读卡装置2的电压时序不一致，而导致待测装置3无法正常启动。反之，如果直接由读卡装置2外加电源供应，则需花费相当大的成本及时间修改现有的电路，而修改完成后也不一定适用于所有新开发的SD(securedigital)或Expresscard产品。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种外部电源供应装置及其电源供应方法，外部电源供应装置系可侦测一读卡装置的内部电压启动时序，并且提供相同于读卡装置的内部电压启动时序的一测试电压，以使待测装置正常启动，并提供待测装置所需用电，进而解决传统测试系统无法满足待测装置电源需求的缺陷。

本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题的：

本发明的一个技术方案为：一种外部电源供应装置，耦接于一读卡装置与一待测装置，外部电源供应装置包括有一电源供应单元与一电源切换单元。其中，电源供应单元用以提供一外部电压。电源切换单元耦接于读卡装置、电源供应单元及待测装置，电源切换单元从读卡装置接收一内部电压，并受控于内部电压的时序，用以同步切换外部电压成为一测试电压，以及输出测试电压至待测装置，作为待测装置实验或测试时所需的电力来源。

其中，该电源切换单元为一P-MOS(P型金属氧化物半导体)开关，该P-MOS开关的栅极耦接于该读卡装置，该P-MOS开关的漏极耦接于该电源供应单元，该P-MOS开关的源极耦接于一接地端与该待测装置。

其中，该电源切换单元包括：

一开关，具有一控制端、一第一输出端与一第二输出端，其中该控制端耦接于该读卡装置，用于接收该内部电压，该第一输出端耦接于该电源供应单元，该第二输出端耦接于一接地端；及

一继电器，具有一电源输入端、一第三输出端与一第四输出端，其中该电源输入端与该第三输出端耦接于该电源供应单元，该第四输出端耦接于该待测装置。

相比于本发明的前一技术方案，本发明的另一技术方案的外部电源供应装置还包括一电源指示单元，其中，电源指示单元耦接于电源切换单元，其根据内部电压的时序，用以同步产生明/灭的指示。

其中，该电源切换单元为一P-MOS开关，该P-MOS开关的栅极耦接于该读卡装置，该P-MOS开关的漏极耦接于该电源供应单元，该P-MOS开关的源极耦接于该电源指示单元与该待测装置。

其中，该电源指示单元包括一发光二极管。

其中，该电源切换单元包括：