[发明专利]一种用于测试的彩色滤光片

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示面板领域，尤其涉及液晶显示面板中的用于测试的彩色滤光片。

背景技术

近年来，液晶显示装置不仅在信息通信设备，而且在一般的电器设备上都得到了广泛的应用，普及迅速。液晶显示面板一般由像素电极基板和彩色滤光片构成。

在彩色滤光片上包含彩色滤光层和遮光图案层。彩色滤光层包括多个红色滤光单元、多个绿色滤光单元和多个蓝色滤光单元，三种单元以阵列形式平均地分布。遮光图案层用来间隔红色滤光单元、绿色滤光单元和蓝色滤光单元。像素电极基板上设置有像素电极阵列，各个像素电极在位置上与彩色滤光片上的各个滤光单元相对应。在彩色滤光片与像素电极基板之间注入液晶后，形成液晶显示面板。

遮光图案层在间隔各滤光单元时，与滤光单元有重叠部分。该重叠部分与周围部分相比有明显的突起，而这种突起是导致液晶配向状态混乱的原因之一。由于此突起量(突起高度)成为影响液晶显示面板品质的重要因素，因此，在研发和生产时需要对其进行严格的管控。

遮光图案层与滤光单元重叠部分的突起量与遮光图案层的膜厚和重叠量有关。一般，重叠量增大，突起量也随之增大；反之，重叠量减小，突起最也随时减小。但重叠量过小，容易引起漏光现象。另外，突起量还与工艺条件、材料等有关。因此，为了能控制该突起量，以提高显示器的品质，在研发和生产过程中，需要经常观测各色滤光单元与遮光图案层之间重叠量与突起量之间的相互关系(相关系数)，这是彩色滤光片品质管理的重要内容。

为了测得该相关系数，在目前的工艺中，一般在形成红色滤光单元、绿色滤光单元和蓝色滤光单元的曝光工序中，特意偏移光罩的对位量，制作出重叠量连续变化的多块基板，然后对重叠量不同的多块基板进行测量，获得各色滤光单元与遮光图案层之间重叠量与突起量之间的相关系数。

但是，传统的这种方法需要制作多块基板，其成本较高。另一方面，进行测量时，需要替换好几块基板进行测试，完成测试所需要的时间较多。再一方面，由于曝光工序中，光罩对痊时的控制存在一定的不稳定性，因此，有时得到不与设想一致重叠量的差值，造成测试数据的不正确。

发明内容

基于上述背景技术存在的问题，本发明的目的在于提供一种用于测试的彩色滤光片，在本发明中，只需要一块基板，即可完成对各色滤光层与遮光图案层之间重叠量与突起量之间的相关系数。

根据上述目的，本发明提供的用于测试的彩色滤光片包括：透明基板、设置在所述透明基板上的多个彩色滤光层和设置在所述透明基板上的多个遮光图案层，多个所述彩色滤光层与多个所述遮光图案层相互重叠形成多个重叠部分，其特征在于，所述重叠部分的重叠量不一致。

在上述的彩色滤光片中，所述重叠量的范围为1-30μm。

在上述的彩色滤光片中，所述重叠量的范围为3-15μm。

在上述的彩色滤光片中，所述重叠量的差值以1μm为间隔。

在上述的彩色滤光片中，所述彩色滤光层与所述遮光图案层呈格式状排列

在上述的彩色滤光片中，所述遮光图案层与所述彩色滤光层设置在透明基板的空白区。

附图说明

图1A示出了本发明的用于测试的彩色滤光片的结构示意图。

图1B示出了图1A所示的彩色滤光片的俯视图。

图2示出了整张基板的示意图。

具体实施方式

图1A示出了本发明的用于测试的彩色滤光片的结构示意图，图1B示出了该彩色滤光片的俯视图。请同时参见图1A和图1B，彩色滤光片包括透明基板d，在透明基板d上设置有遮光图案层a1、a2、a3、a4...和彩色滤光层b1、b2、b3...。遮光图案层a1、a2、a3、a4...与彩色滤光层a1、a2、a3、a4...相互之间有重叠部分c1、c2、c3...。即，彩色滤光层b1与遮光图案层a1与a2重叠，形成两个重叠部分c1；彩色滤光层b2与遮光图案层a2与a3重叠，形成两个重叠部分c2；彩色滤光层b3与遮光图案层a2与a3重叠，形成两个重叠部分c3。虽然在图1A和图1B的实施例中，仅示出3列彩色滤光层，但可以理解，彩色滤光层的数量可以根据需要而定，图1A和图1B彩色滤光层的数量仅为了说明和解释本发明而已。

在本发明中，将彩色滤光层与遮光图案层相互重叠的重叠量的大小设置成不一致。即c1、c2、c3...宽度设置成不一致。如果即可在一块基板上同时制作出具有各种重叠量的彩色滤光层与遮光图案层，从而只需要一块基板，即可完成对各色滤光层与遮光图案层之间重叠量与突起量之间的相关系数。