[发明专利]温度频率校正装置的测量系统和方法

权利要求书

1.一种温度频率校正装置的测量系统，其特征在于，其包括：

温度箱，用于在预定温度范围内调节其内温度；

收容于温度箱内的温度频率校正装置，其包括晶体振荡器、温度感应单元、 频率锁定单元和存储单元，所述晶体振荡器产生参考频率，所述温度感应单元 用于感应所述温度频率校正装置的内部温度，所述频率锁定单元基于所述参考 频率、所述温度频率校正装置的内部温度、频率控制字及存储于所述存储单元 的温度频率校正控制数据生成期望输出频率；

记录装置，用于记录所述温度频率校正装置在各离散内部温度值下的期望 输出频率值及相应的内部温度值；

拟合装置，用于根据各离散内部温度值及相应的期望输出频率值拟合出连 续的温度频率曲线；

再采样装置，用于以预定采样温度间隔对拟合出的温度频率曲线进行再采 样以获得各采样温度值对应的频率值；

计算装置，用于根据各采样温度值及相应的频率值计算得到温度频率校正 控制数据，并将所述温度频率校正控制数据导入所述温度频率校正装置的存储 单元内，

所述温度频率校正控制数据包括初始温度的初始温度频率校正字、初始温 度频率校正字的差分、差分固定步长及固定步长符号表，

所述计算装置执行如下操作：

根据各采样温度点的频率值与温度频率校正字之间的函数关系，利用各采 样温度点对应的频率值求取各采样温度点对应的理论温度频率校正字；

计算各采样温度点对应的理论温度频率校正字的差分；

选定一采样温度点所对应的理论温度频率校正字为所述初始温度频率校正 字，那么该选定采样温度点所对应的理论温度频率校正字的差分将被记录为所 述初始温度频率校正字的差分；

计算各采样温度点对应的理论温度频率校正字的二阶差分；

将各采样温度点对应的理论温度频率校正字的二阶差分中的最大绝对值记 录为所述差分固定步长；和

根据初始温度频率校正字、初始温度频率校正字的差分、差分固定步长及 所述的各采样温度点对应的理论温度频率校正字计算获得所述固定步长符号表 中每位数据的值。

2.如权利要求1所述的温度频率校正装置的测量系统，其特征在于：所 述温度频率校正装置为封装为一体的集成电路芯片。

3.如权利要求1所述的温度频率校正装置的测量系统，其特征在于：在 预定时间内，所述温度感应单元感应的内部温度值的变化小于预定温度变化阈 值，则所述记录装置记录下该内部温度值以及所述温度频率校正装置在该内部 温度值下的期望输出频率值。

4.如权利要求1所述的温度频率校正装置的测量系统，其特征在于：相 邻离散内部温度值之间的温度间隔大于所述预定采样温度间隔。

5.如权利要求1所述的温度频率校正装置的测量系统，其特征在于：拟 合装置采用贝克曼曲线生成器根据各离散内部温度值及相应的期望输出频率值 生成所述温度频率曲线。

6.如权利要求1所述的温度频率校正装置的测量系统，其特征在于：对 于不同的温度范围采用不同的预定采样温度间隔。