[发明专利]测试陀螺仪在两个轴向上的性能的测试转台及其测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试转台，特别涉及一种测试陀螺仪在两个轴向上的性能的测试转台及其测试方法。

背景技术

陀螺仪是一种即使无外界参考信号也能探测出运载体本身姿态和状态变化的内部传感器，其功能是测量敏感运动体的角度、角速度和角加速度。随着微机电系统(MEMS，Micro-Electro-Mechanical System)技术的发展，很多基于MEMS技术的微型陀螺仪已经面世，并且在汽车、导航、游戏等领域中得到广泛地应用。但对于微型陀螺仪来说，在器件的研制、封装以及其他相关的加工制作过程中，难免会对器件的性能产生不利的影响；此外，器件经过一段时间的使用后，由于材料老化、温度、湿度等不同环境条件等原因导致其性能必然会产生一定漂移，经过一定时间的累积后所造成的误差会相当地大，因此，无论是对刚刚出厂的成品还是对于正在使用中的产品，都需要一个稳定而高效的测试平台，对产品的性能进行标定和校正。

在对陀螺仪的性能进行标定和校正的设备中，最简单的设备是单轴转台，只需用一个马达和相应的基台等测试设备就可以完成对器件性能的测试，但是，对于两轴和三轴的器件来说，要完成各个轴向的性能测试，必须在更换轴向的时候，从测试设备上卸下器件，改变器件的轴向再安装到测试设备上以后，经过校准后才能进行另外一个轴向上的性能测量，显然，对于多轴微型陀螺仪的测量来说，单轴转台难以提高测试的效率和精度。

多轴转台可以同时或者按要求的步骤完成多个轴向性能的测试，但是，每增加一个测试轴，设备重量都会成倍地增加，对多轴转台来说，既要有基本的承载能力，还要有一定的旋转范围和速度范围，以及良好的速度稳定性和精度，定位精度，加速度要求(突停，突转)等等，对于具有沉重负载的多轴转台来说，上述这些要求无疑给测试增加了很大困难，同时也增加了器件测试的成本。

发明内容

本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术的缺陷，提供一种测试陀螺仪在两个轴向上的性能的测试转台及其测试方法，其结构简单，操作便利，而且测试板上还可以同时测试多个器件，因此，更加有助于大幅度提高器件测试的效率和降低测试成本。

本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题的：一种测试陀螺仪在两个轴向上的性能的测试转台，其特征在于，其包括平台、测试母板、卡钩、弹簧、定位板、间隔块、测试板、连接装置、插槽、转动装置、水平垫、待测器件卡槽和引线条，测试母板位于平台的上方，卡钩的一端固定在平台上，卡钩将测试板固定在水平垫上，弹簧安装在转动装置上，定位板固定于转动装置上，间隔块固定于测试板的一端，待测器件卡槽安装于测试板上方，测试板的一端设有引线条，引线条插入插槽中，连接装置固定在转动装置和测试母板之间，转动装置安装在定位板和连接装置之间，水平垫固定在平台的两端。

优选地，所述平台具有平台转动轴心，平台转动轴心与定位板位于同一平面上。

优选地，所述测试板的数量为两块，两块测试板相对于平台转动轴心对称。

优选地，所述定位板的板面垂直于水平方向。

优选地，所述插槽的数量为两块，两块插槽分别置于定位板的两侧。

优选地，所述连接装置确保转动装置、插槽和测试板同步转动。

优选地，所述引线条用于输出陀螺仪在不同状态下的信号，信号为电压信号或电容信号。

优选地，所述测试板平行或垂直于测试母板。

本发明的另一技术方案还提供一种测试陀螺仪在两个轴向上的性能的测试转台的测试方法，其特征在于，该测试方法包括以下步骤：测试板平行于测试母板时，平台转动来驱使测试板上面承载的陀螺仪在一个轴向上进行性能的测试；然后打开卡钩，测试板翻转九十度后，平台转动来驱使测试板上面承载的陀螺仪在另一个轴向上进行性能的测试。

优选地，所述测试方法适用在不同测试环境的温度和湿度条件下进行性能的测试。

本发明的积极进步效果在于：本发明使微型陀螺仪在两个轴向上的测试更有效率，其通过改变测试板的方向来增加一个测试的轴向，结构简单，易于操作，相比于其他的多轴转台来说，成本更低；而且，根据测试的要求，在测试板上可以同时测试多颗器件的性能，有利于提高测试器件的效率，大幅度降低器件的测试成本。此外，本发明能够在多种测试环境条件下完成对器件性能的测试，多种测试环境条件比如不同的湿度、温度等条件。

附图说明

图1为本发明用于测试微型陀螺仪在两个轴向上的性能的测试转台XOY面内的结构示意图。

图2为本发明用于测试微型陀螺仪在两个轴向上的性能的测试转台XOY面内的俯视示意图。