[发明专利]NFC-SIM卡芯片仿真器有效

专利信息
申请号: 200910057655.1 申请日: 2009-07-27
公开(公告)号: CN101968762A 公开(公告)日: 2011-02-09
发明(设计)人: 许国泰 申请(专利权)人: 上海华虹集成电路有限责任公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36;G06K7/00
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 戴广志
地址: 201203 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: nfc sim 芯片 仿真器
【说明书】:

技术领域

发明涉及集成电路芯片仿真器领域,特别是涉及一种NFC-SIM卡芯片仿真器。

背景技术

NFC-SIM卡芯片是新一代的结合了NFC(Near Field Communication,近距离通讯)和SIM(Subscriber Identity Module客户识别模块)卡功能的智能卡芯片,即提供了传统SIM卡的功能,又包含了NFC技术,主要应用于手机移动支付等新领域。与其他的智能卡芯片一样,NFC-SIM卡芯片内也有用户开发的用户程序,但与SIM卡内用户程序不同的是,NFC-SIM卡芯片中的用户程序包括了实现SIM卡功能以及实现NFC功能两部分的程序。NFC-SIM卡芯片在配合NFC手机(支持NFC技术的手机)工作时,用户程序中的SIM功能模块通过7816接口(符合ISO7816协议)与手机的SIM卡模块通信,用户程序中的NFC模块通过SWP接口(符合SWP协议,Single Wire Protocol,单线协议标准)与手机的NFC模块通信。NFC-SIM卡与传统SIM卡一样有C1-C8共8个触点,其中C6用于NFC的SWP接口,其余仍用于7816接口。NFC-SIM卡芯片内的用户程序在工作中,即使仅执行SIM功能,也会实时检测SWP接口(C6)上的信号,以判断连接的是否是NFC手机。即使NFC不工作,NFC手机的C6管脚上仍旧会给一个固定的0V的低电平,检测到这个0V的低电平,用户程序就认为连接的是正常的NFC手机,如果检测不到这个0V的低电平,用户程序就认为连接的NFC手机不正常,会做出错的处理。

同样NFC-SIM卡芯片内用户程序的编写和调试,所使用的工具也是NFC-SIM卡芯片仿真器。仿真器内使用仿真芯片替代NFC-SIM卡产品芯片,模拟产品芯片功能。与其他智能卡芯片一样,NFC-SIM卡芯片内的用户程序在仿真调试时也需要与读卡设备通信,以便调试通信功能。在调试用户程序的NFC功能时,必须使用NFC手机。在调试用户程序的SIM功能时,NFC手机是一种可用的选择,但是普通的符合7816的智能卡芯片用户程序调试中,用户用的基本都是接触式智能卡读卡机,对用户而言使用这类读卡机调试7816通信非常地熟悉和方便。因此,相比于用NFC手机调试NFC-SIM卡芯片用户程序的SIM功能,特别是7816通信部分时,绝大多数用户还是倾向于能使用更为熟悉和方便的接触式读卡机。但是,由于绝大多数接触式读卡机只支持7816接口,不支持NFC的SWP接口,读卡机上的C6管脚是悬空的,所以连接这些读卡机时,NFC-SIM卡芯片仿真器的仿真芯片的SWP上检测到的是不定态的信号电平。这样NFC-SIM卡芯片仿真器连接这些读卡机调试用户程序的SIM功能时,由于用户程序中仍旧在实时检测SWP接口(C6)上的信号,检测到的是不定态的信号电平,用户程序就会进入出错异常的处理,导致用户程序的SIM功能部分不能使用接触式读卡机正常调试。

现有的解决方法是,如果用户使用接触式读卡机调试用户程序的SIM功能部分时,需要把用户程序中所有实时检测SWP接口的程序段注释(即屏蔽)掉,当连接NFC手机调试NFC功能部分时,必须再把这些程序段打开,十分的不方便,影响了调试工作的效率。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种NFC-SIM卡芯片仿真器,调试用户程序的SIM功能部分,无需屏蔽掉用户程序中实时检测SWP接口的程序段,并且能配合NFC手机作为终端读卡设备时的正常工作。

为解决上述技术问题,本发明的NFC-SIM卡芯片仿真器,包括仿真芯片,所述仿真芯片有符合ISO7816协议的7816引脚,包括复位输入引脚、时钟输入引脚和双向数据引脚,分别与终端读卡设备的复位输出引脚、时钟输出引脚和双向数据引脚相连接;所述仿真芯片使用所述仿真器提供的电源,并且具有符合SWP协议的SWP_1引脚;

还包括一检测控制模块,其具有符合SWP协议的SWP_2引脚和SWP_3引脚,以及电源检测引脚;所述SWP_2引脚与仿真芯片的SWP_1引脚连接,SWP_3引脚与终端读卡设备上的C6触点引脚连接,电源检测引脚与终端读卡设备的电源输出引脚连接;

所述检测控制模块检测所述电源检测引脚上的电平,如果检测的电平为2V以下,则在其内部直接将SWP_2引脚与SWP_3引脚相短接;如果检测的电平为2V以上,则直接向与仿真芯片的SWP_1输出一个0V的低电平。

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