[发明专利]非接触式智能卡通用数字验证平台

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路芯片测试领域，特别是涉及一种非接触式智能卡通用数字验证平台。

背景技术

随着智能卡技术的不断推广，非接触式智能卡因其具有方便，安全等一系列优点而被广泛的应用于各种领域。与此同时，为了更好的适应各种领域的不同应用要求，对非接触式智能卡的速度和抗干扰等性能也提出了更高的要求。

作为非接触式智能卡芯片流片前的有效验证手段，原型机验证已成为芯片设计验证流程中的重要组成部分。现有的非接触式智能卡芯片原型机验证方法大多如图1所示，PC(personal computer，个人电脑)机通过串口发送指令给MCU(Micro Controller Unit，微型控制单元)，MCU通过控制专用读卡机的编码产生激励信号并输出至被测器件(DUT)。被测器件根据激励信号作出响应后再向专用读卡机返回信息。专用读卡机将解码后的数据通过MCU传递给PC机。用户通过返回的信息同预期的信息进行比对，以确定DUT逻辑的正确性。

现有的非接触式智能卡芯片原型机验证方法虽然可以高效的进行原型机验证，但是也存在一定的不足。

首先，非接触式智能卡的通讯协议有ISO14443-TYPEA，ISO14443-TYPEB，ISO18000-15693等，而一些专用的非接触式读卡机并不支持全部的通讯协议。这样针对采用不同通讯协议的非接触式智能卡就需要使用不同的专用读卡机与之相匹配；而且由于应用的不断增加，一些新的通讯协议也将随之产生，非接触式智能卡的验证平台也将随之需要更换，从而不断的提升测试验证的成本。

此外，由于非接触式智能卡的模拟电路通过解调后的信号在不同的应用环境下可能会产生一些偏移或抖动，而专用读卡机发送的激励信号一般多为标准信号，故不能在原型机验证阶段根据需要进行一些信号抖动及偏移的验证，从而使非接触式智能卡芯片最终的成功流片及应用存在一定的风险。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种非接触式智能卡通用数字验证平台，可以发送符合多种通讯协议的激励信号，并且能在较高的精度上模拟干扰信号，更真实地验证非接触式智能卡的逻辑功能。

为了解决上述技术问题，本发明的非接触式智能卡通用数字验证平台包括：PC机、MCU、存储器、硬件发送电路和硬件接收电路；

所述PC机通过串行接口与MCU相连接，实现与MCU的信息通讯；所述PC机根据不同通讯协议和不同要求采用不同的编码算法，将需要发送的数据信号转换成一系列的比特流；所述PC机通过MCU对存储器中存储的数据进行参数配置，并将配置参数写入存储器中；所述PC机通过MCU读取存储器中的数据，得到被测器件响应激励返回的数据信号的采样数据，对读取的数据按照不同通讯协议和不同要求采用不同的解码算法进行解码，在PC机端最终看到的数据是和通讯协议及编解码无关的真实数据内容，并在此基础上进行功能验证；

所述MCU通过数据/地址总线与存储器、硬件发送电路相连接，将PC机发送的数据信号转换成对硬件发送电路的启动控制信号；将PC机发送的数据信号写入到存储器中，将存储器中存储的数据读出，并将读取的数据传送给PC机；

所述存储器通过数据/地址总线与硬件发送电路、硬件接收电路相连接，对发送给被测器件的数据进行暂存，对采样的被测器件响应激励以比特流形式返回的数据进行暂存；

所述硬件发送电路通过输出接口与DUT相连接，读取存储器中的数据，根据预定义的规则产生输入给DUT的激励信号；

所述硬件接收电路通过输入接口与被测器件相连接，对被测器件返回的数据进行采样，并将采样的数据写入存储器。

采用本发明的非接触式智能卡通用数字验证平台，与通讯协议相关和具体验证相关的编解码部分都是由PC机完成的，所以针对不同通讯协议(如ISO14443-TYPEA，ISO14443-TYPEB，ISO18000-15693，以及其他通讯协议)的非接触式智能卡，只需修改PC机的编解码模块，就可以完成对被测器件的激励信号发送和被测器件返回的数据信号的采样。从而使得整个非接触式智能卡通用数字验证平台拥有很好的通用性、灵活性和可扩展性。由于需要发送的数据信号是由用户按固定周期进行任意控制的，只要该固定周期足够小，便可以产生精度很高的激励信号。对于那些专用读卡机无法发送的非标准的偏移和抖动信号，只需要在PC机进行少量的修改，便可以很容易的实现。