[发明专利]一种Ⅱ-Ⅵ族化合物半导体薄膜的退火炉结构无效
申请号: | 200910058315.0 | 申请日: | 2009-02-12 |
公开(公告)号: | CN101806539A | 公开(公告)日: | 2010-08-18 |
发明(设计)人: | 雷智;冯良桓;张静全;蔡亚平;武莉莉;李卫;黎兵;郑家贵;蔡伟 | 申请(专利权)人: | 四川尚德太阳能电力有限公司 |
主分类号: | F27B9/06 | 分类号: | F27B9/06;F27B9/24;F27B9/36;H01L21/324;H01L31/18 |
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地址: | 610041 四川省*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 化合物 半导体 薄膜 退火炉 结构 | ||
1.一种II-VI族化合物半导体薄膜的退火炉结构,具有可以快速移动的加热板;在加热板上开有一定分布的通气为孔;工作气体由微孔中喷出。
2.如权利要求1所述的一种II-VI族化合物半导体薄膜的退火炉结构,其特征在于加热板垂直于样品表面快速移动,保证加热迅速和降温迅速。
3.如权利要求1所述的一种II-VI族化合物半导体薄膜的退火炉结构,其特征在于加热板与样品保持在3mm以内,进行进空间加热。
4.如权利要求1所述的一种II-VI族化合物半导体薄膜的退火炉结构,其特征在于加热板开有一定分布的微孔,加热后的工作气体由微孔喷出,对样品进行加热。
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