[发明专利]一种采用单MCU实现多通道异步化测试的方法无效
申请号: | 200910059193.7 | 申请日: | 2009-05-06 |
公开(公告)号: | CN101603884A | 公开(公告)日: | 2009-12-16 |
发明(设计)人: | 张永林 | 申请(专利权)人: | 和芯微电子(四川)有限公司 |
主分类号: | G01M19/00 | 分类号: | G01M19/00 |
代理公司: | 成都天嘉专利事务所(普通合伙) | 代理人: | 徐 丰 |
地址: | 610041四川省*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 采用 mcu 实现 通道 异步 测试 方法 | ||
1、一种采用单MCU实现多通道异步化测试的方法,其特征在于:将一个单MCU通过多通道分选机与多个单通道测试系统组合形成同时对多个产品进行测试的多通道测试系统;所述多通道分选机与多个单通道测试系统组合,是通过一根通讯电缆连接单MCU测试系统与多通道分选机的通讯口;或者,依次将多通道分选机的通道1到n连接到单MCU测试系统组合形成多通道测试系统,其中n为整数。
2、根据权利要求1所述一种采用单MCU实现多通道异步化测试的方法,其特征在于:所述多个单通道测试系统包括产品测试通道1、产品测试通道2……产品测试通道n,其中n为整数。
3、根据权利要求1所述一种采用单MCU实现多通道异步化测试的方法,其特征在于:所述多通道分选机由手动或外部事件替代,用于触发启动各通道测试。
4、根据权利要求1所述一种采用单MCU实现多通道异步化测试的方法,其特征在于具体步骤为:
A.系统初始化
a、初化与多通道分选机的通讯状态;
b、初始化各通道状态;
c、初始化各系统变量及寄存器;
B.等待用于启动某通道开始测试的外部中断;
C.当由外部事件触发的启动某通开始测试的外部中断来临,系统处理中断,判断并启动对应的通道开始测试;
D.某通道在测试中还没测试结束,由外部事件触发的启动另一通道的中断来临,系统保护现场,判该中断的优选级是否高于当前通道优先级;
当高于当前优先级,系统则保存当前状态,置标志寄存器,执行高优先级通道测试任务,当高优先级任务执行完成,系统判别先前置的标志寄存器继续未执行完的通道测试任务;
当不高于当前通道优先级,系统则置标志寄存器,继续当前测试,当当前通道测试完成,系统判别先前置的标志寄存器,开启另一通道的测试;
E.当前所有通道的测试任务都已完成,系统判断是否结束,结束则系统退出运行,否则系统返回上述步骤B继续运行。
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