[发明专利]一种测试向量的调节对比方法有效
申请号: | 200910060234.4 | 申请日: | 2009-08-03 |
公开(公告)号: | CN101644744A | 公开(公告)日: | 2010-02-10 |
发明(设计)人: | 危建国 | 申请(专利权)人: | 和芯微电子(四川)有限公司 |
主分类号: | G01R31/317 | 分类号: | G01R31/317 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 610041四川省*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测试 向量 调节 对比 方法 | ||
1.一种测试向量的调节对比方法,将存储器中的数据测试向量输入至待测系 统,待测系统输出回流数据测试向量,在存储器中的标准数据测试向量和回流数 据测试向量进行对比的过程中,其特征在于:首先判断标准数据测试向量是否含 有忽略数据,当含有忽略数据时,对忽略数据进行解码,并将忽略数据的位置屏 蔽,生成屏蔽数据测试向量,同时将回流数据测试向量相同的位置也屏蔽,然后 将屏蔽数据测试向量与回流数据测试向量进行比较判断是否相同;当不含有忽略 数据时,标准数据测试向量与回流数据测试向量直接进行比较判断是否相同。
2.根据权利要求1所述一种测试向量的调节对比方法,其特征在于:所述屏 蔽数据测试向量与标准数据测试向量等位宽。
3.实现权利要求1所述一种测试向量的调节对比方法的调节对比电路,其特 征在于:
设置有一个忽略数据位调节模块,用于判断忽略数据,对忽略数据进行解码, 并将忽略数据的位置屏蔽,生成屏蔽数据测试向量;
设置有一个比较模块,用于标准数据测试向量与回流数据测试向量进行比较;
所述忽略数据位调节模块对标准数据测试向量进行判断,当含有忽略数据时, 对忽略数据进行解码,并将忽略数据的位置屏蔽,生成屏蔽数据测试向量,然后 通过比较模块对屏蔽数据测试向量与回流数据测试向量进行判断是否相同;当不 含有忽略数据时,直接通过比较模块对标准数据测试向量与回流数据测试向量进 行比较判断是否相同。
4.根据权利要求3所述的调节对比电路,其特征在于:所述忽略数据位调节 模块包括标准数据测试向量数据通道。
5.根据权利要求3所述的调节对比电路,其特征在于:所述忽略数据位调节 模块为一个逻辑电路,永远处于激活状态。
6.根据权利要求3所述的调节对比电路,其特征在于:所述比较模块包括两 个与门,标准数据测试向量同时输入一个与门和解码模块,回流数据测试向量输 入另一个与门;所述标准数据测试向量通过解码模块后输出屏蔽数据测试向量, 屏蔽数据测试向量同时输入两个与门,通过两个与门分别实现与标准数据测试向 量和回流数据测试向量相与,得出比较结果,两个数据如果相同测输出0,相异则 输出为1。
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