[发明专利]一种多次曝光组合中曝光次数确定及曝光时间分配的方法无效

专利信息
申请号: 200910067835.8 申请日: 2009-02-09
公开(公告)号: CN101494739A 公开(公告)日: 2009-07-29
发明(设计)人: 胡燕翔;李斌桥 申请(专利权)人: 天津市晶奇微电子有限公司
主分类号: H04N5/235 分类号: H04N5/235;H04N5/232;H04N5/335
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 代理人: 江镇华
地址: 300386天津市空港*** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 多次 曝光 组合 次数 确定 时间 分配 方法
【权利要求书】:

1.一种多次曝光组合中曝光次数确定及曝光时间分配的方法,其特征如下:

(1)设光强小于5Lux时属于低光强,大于500Lux为高光强,中等长度的曝光时间为100Lux光照下达到50%满阱容量时曝光时间,使用中等长度的曝光时间,拍摄一幅图像,曝光时间为Tc;

(2)计算图像中心区域的平均亮度V、饱和像素数目Ns和严重欠曝光像素的数目Nn;

(3)当平均亮度V处于[30%饱和输出值AL,70%饱和输出值AH]之间,且饱和像素数目Ns和严重欠曝光像素的数目Nn均不超过设定上限,不调整曝光时间;

(4)下列三种情况下,1:当平均亮度V处于[20%饱和输出值ML,30%饱和输出值AL]或[70%饱和输出值AH,80%饱和输出值MH]之间,且饱和像素数目Ns和严重欠曝光像素的数目Nn均不超过设定上限;2:平均亮度V处于[20%饱和输出值ML,30%饱和输出值AL]或[70%饱和输出值AH,80%饱和输出值MH]之间,且饱和像素数目Ns不超过设定上限,而严重欠曝光像素的数目Nn超过设定上限;3:平均亮度V处于[20%饱和输出值ML,30%饱和输出值AL]或[70%饱和输出值AH,80%饱和输出值MH]之间,且饱和像素数目Ns超过设定上限,而严重欠曝光像素的数目Nn不超过设定上限,按照下面的公式调整曝光时间Tt:

其中,Tmin为图像传感器能够使用的最小曝光时间,Nsd表示饱和像素数目Ns的规定上限,Ptotal表示一帧中像素的总数;K为调整系数,取0~1之间;

(5)如果饱和像素数目Ns和严重欠曝光像素的数目Nn均超过设定上限,平均亮度V在[20%饱和输出值ML,80%饱和输出值MH]之间,则再进行两次采样,一次采样低光强,一次采样高光强;

(6)如果平均亮度V低于20%饱和输出值ML且饱和像素数目Ns和严重欠曝光像素的数目Nn均超过设定上限,则再进行3次采样,其中两次低光强采样,一次高光强采样;

(7)如果平均亮度高于80%饱和输出值MH且饱和像素数目Ns和严重欠曝光像素的数目Nn均超过设定上限,则采样3次,其中两次高光强采样,一次低光强采样;

上述的步骤(5)、(6)、(7)中,

两次高光强采样的曝光时间分别按照下列两个公式确定,一次高光强采样的曝光时间按照下列两个公式的第一个公式确定,式中,Tt 1为第一高光强采样曝光时间,Tt 2为第二高光强采样曝光时间:

两次低光强采样的曝光时间分别按照下列两个公式确定,一次低光强采样的曝光时间按照下列两个公式中的第一个公式确定,式中,Tmax为图像传感器能够使用的最大曝光时间,Tt 3为第一低光强采样曝光时间,Tt 4为第二低光强采样曝光时间:

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津市晶奇微电子有限公司,未经天津市晶奇微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910067835.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top