[发明专利]利用柱透镜进行像散纠正的光谱仪无效

专利信息
申请号: 200910070175.9 申请日: 2009-08-21
公开(公告)号: CN101634591A 公开(公告)日: 2010-01-27
发明(设计)人: 徐晓轩;王斌 申请(专利权)人: 南开大学
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28
代理公司: 天津佳盟知识产权代理有限公司 代理人: 侯 力
地址: 300071*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 利用 透镜 进行 纠正 光谱仪
【权利要求书】:

1、一种利用柱透镜进行像散纠正的光谱仪,其特征在于该光谱仪包括入射狭缝、柱面透镜、凹面准直反射镜、平面光栅、凹面聚焦反射镜和线阵列CCD探测器,入射光束依次经入射狭缝和柱面透镜后,照射到凹面准直反射镜上,经凹面准直反射镜反射的光束平行照射到平面光栅上,经该平面光栅分光后的光束照射到聚焦反射镜上,并被聚焦到线阵列CCD探测器上。

2、根据权利要求1所述的利用柱透镜进行像散纠正的光谱仪,其特征在于,所述的所有光学元件在水平面、即X-Y平面布置,其中入射狭缝开口竖直放置,平行于Z轴;柱透镜放置如下,在X轴方向上,依据光谱仪尺寸,使入射狭缝与柱透镜二者之间距离为2-3cm,使用ZEMAX软件进行优化,得到CCD探测器处的最佳效果;在Y轴方向上,以狭缝所在X-Z平面为中心,左右对称放置;在Z轴方向上,使柱透镜的光轴与通过狭缝的竖直中心的光重合,这样以解决像散问题。

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