[发明专利]微小型智能电子测试仪

权利要求书

1.一种微小型智能电子测试仪，特征在于：所述的微小型智能电子测试仪系采用SoC技术由单片电路芯片集成，测试仪由智能电子测试电路及虚拟面板的编程软件构成；

a.所述的微小型智能电子测试仪采用SoC技术将其智能电子测试机构及其电路集成在单片电路芯片上构成能置于被测体内的、其中包括构成能跟随被测体一起运动的携带式微小型智能电子测试仪；

b.所述的智能电子测试仪经过虚拟面板的软件编程设置为不同测试模式的智能电子测试仪，所述的不同测试模式选择有：恒定参数测试模式、变参数测试模式、级联测试模式；

所述的智能电子测试仪的级联测试模式结构是：根据选择的级联模式，通过测试仪的专用接口多个SoC单片电路芯片的结构多级联成扩展的智能电子测试仪；所述的智能电子测试仪的级联测试模式详细结构是：根据被测参数需求相应选择不同工作模式的级联结构，这些不同工作模式的级联结构选择有：信息采集速率扩展、测试通道与测试参数的扩展、存储容量的扩展需要的单种至三种的混合选择组合构成的多级联扩展结构。

2.根据权利要求1所述的微小型智能电子测试仪，特征在于：所述的智能电子测试仪的变参数测试模式的结构是：根据测试环境、条件变化的需求，选择设置不同的参数改变机制，构成不同类型、不同数量的变参数测试方式和机构，形成变参数智能电子测试仪。

3.根据权利要求2所述的微小型智能电子测试仪，特征在于：所述的智能电子测试仪的变参数测试模式或机构详细结构有：根据被测试参数特点，测试仪选择并设置或构成不同测试需求、不同工作方式的变参数测试模式或机构，这些变参数测试模式或机构包括采样频率、触发方式，计数模式的选择并设置或构成。