[发明专利]直接测量气体吸收谱形的平衡检测电路及检测方法

权利要求书

1.一种直接测量气体吸收谱形的检测方法，其特征在于，所述方法包括下列步骤：

步骤A：由同一激光分出两束光并经两个不同光路，其中一路经过待测气体吸收后由光探测器进行检测，另一路不经过任何气体进行吸收或经过已知气体吸收后由另一光探测器进行检测；

步骤B：将两个光探测器输出的电流信号分别进行放大处理；

步骤C：对经过放大处理后的输出结果进行除法运算，其输出直接反映待测气体的吸收强度谱形。

2.根据权利要求1所述的直接测量气体吸收谱形的检测方法，其特征在于，所述步骤C具体为，将经过放大处理的两个输出结果输入除法器中进行相除运算。

3.根据权利要求1所述的直接测量气体吸收谱形的检测方法，其特征在于，所述步骤C还包括，对除法运算的结果进行对数运算，其运算结果直接反映待测气体的吸收系数谱形。

4.根据权利要求1所述的直接测量气体吸收谱形的检测方法，其特征在于，在所述步骤B中，还包括通过调节两个光探测器输出的电流信号放大系数来调整输出信号。

5.一种实现权利要求1所述的直接测量气体吸收谱形的检测方法的直接测量气体吸收谱形的平衡检测电路，其特征在于，所述平衡检测电路包括第一放大电路和第二放大电路；所述第一放大电路的输入端与第一光探测器相连接，所述第二放大电路的输入端与第二光探测器相连接；两个放大电路分别与除法器相连接，在除法器的输出端连接有对数器。

6.根据权利要求5所述的直接测量气体吸收谱形的平衡检测电路，其特征在于，所述第一光探测器与所述第二光探测器是同类探测器，其响应波长由待测气体决定。

7.根据权利要求5所述的直接测量气体吸收谱形的平衡检测电路，其特征在于，所述第一放大电路和第二放大电路可以分别对第一光探测器和所述第二光探测器输入的电信号提供不同的放大系数。