[发明专利]一种测量单模光纤几何参数的方法

权利要求书

1.一种光测量单模光纤几何参数的方法，特征在于包括以下步骤：

用普通半导体激光器做光源，光源波长在可见光波段；

用CCD探测光纤输出端的光强分布，进行全场测量；

用到一种高阶模滤除装置，使光纤中传输的高阶模被滤除，仅基模到达光纤输出端；

把得到的图像用计算机进行处理，通过对光强分布进行拟合，计算出单模光纤的几何参数，包括纤芯折射率n₁、包层折射率n₂和纤芯半径a；

用非线性最小二乘法进行拟合，待拟合参数为纤芯折射率n₁、包层折射率n₂和纤芯半径a；根据光波导理论，计算出光纤输出端基模光强分布的公式I(n₁，n₂，a)，从被测图像中提取光强分布数据点，用公式I(n₁，n₂，a)对数据点进行拟合，得到最佳的n₁，n₂，a值。

2.根据权利要求1所述的方法，特征在于：所用的光探测装置能够进行全场测量，一次性测量光纤输出端各点的光强值，从而能得到空间二维光强分布图。

3.根据权利要求1所述的方法，特征在于：所用高阶模滤除装置为半径一定的圆柱体，光纤在该圆柱体上绕一定圈数。

4.根据权利要求1所述的方法，特征在于：CCD通过图像采集卡与计算机直接相连，能在计算机上实时显示测量到的光强分布图像，并能够快速、实时地对图像进行处理，算出光纤的几何参数。