[发明专利]星载多时相合成孔径雷达图像的自动变化检测方法无效

专利信息
申请号: 200910079793.X 申请日: 2009-03-11
公开(公告)号: CN101833093A 公开(公告)日: 2010-09-15
发明(设计)人: 尤红建;付琨 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周国城
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 多时 相合 孔径 雷达 图像 自动 变化 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种星载多时相合成孔径雷达图像的自动变化检测方法,其特征在于,包括:

步骤1:成像处理后,根据中心极限定理,两个时相获取的合成孔径雷达图像数据的各自标准化算术平均趋近于标准正态分布;

步骤2:基于Edgeworth展开原理,分别对趋近于正态分布的两个时相获取的合成孔径雷达图像数据的算术平均采用标准正态分布和Hermite多项式逼近;

步骤3:分别对两个时相获取的合成孔径雷达图像在Edgeworth逼近的基础上,采用归一化的交叉熵计算两个时相合成孔径雷达图像的差异值,得到一幅差异指数图像;

步骤4:对差异指数图像采用基于瑞利分布的恒虚警率检测方法进行变化区域的自动提取。

2.如权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述步骤3中得到的一幅差异指数图像,显示了两个时相合成孔径雷达图像之间的差异程度,若根据预先设定的阈值对差异指数图像进行分割,即分割成变化的区域和未变化的区域。

3.如权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述步骤3中得到的一幅差异指数图像,其直方图分布接近瑞利分布,瑞丽分布的分布密度函数为:

f(x)=xb2e-x22b2]]>

其中,b为形状参数,而x为函数自变量,e为常数2.718281828459。

4.如权利要求1或2所述的检测方法,其特征在于,所述步骤4的基于瑞利分布的恒虚警率检测方法,其阈值T计算公式为:

T=(-2log(Pfa)-π2)2-π2δ+μ]]>

Pfa为给定的虚警率,δ为差异指数图像计算的方差,μ为差异指数图像的均值;π为圆周率常数,为3.141592653589793…;

对于差异指数图像,分别计算出均值、方差,然后给定虚警率,代入上式计算出阈值,然后对差异图像进行二值化分割,得到变化区域。

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