[发明专利]存储器坏块表的保存和读取的方法以及装置有效
申请号: | 200910080119.3 | 申请日: | 2009-03-19 |
公开(公告)号: | CN101510445A | 公开(公告)日: | 2009-08-19 |
发明(设计)人: | 廖志城;凌明 | 申请(专利权)人: | 北京中星微电子有限公司 |
主分类号: | G11C29/00 | 分类号: | G11C29/00 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人: | 许 静 |
地址: | 100083北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 存储器 坏块表 保存 读取 方法 以及 装置 | ||
1.一种存储器坏块表的保存方法,其特征在于,包括:
判断存储器的每个块是否为坏块,产生判断结果;
若所述判断结果为:所述块为坏块,则生成坏块信息;
在所述存储器中查找预定数量的好块作为坏块表保存块;
根据所述坏块信息和坏块表保存块的标识符生成坏块表;
将至少一份所述坏块表写入所述坏块表保存块中;
所述的存储器坏块表的保存方法,还包括:
根据所述判断结果,计算坏块数量;
根据坏块表保存块的数量、所述坏块数量以及所述存储器中坏块表预留存储块的数量,计算所述存储器中已使用的块的数量;
将所述存储器中已使用的块的数量记录在所述坏块表中。
2.根据权利要求1所述的存储器坏块表的保存方法,其特征在于,所述计算所述存储器中已使用的块的数量的步骤之前,还包括:
根据所述坏块信息,确定所述存储器中坏块表预留存储块的数量。
3.根据权利要求1所述的存储器坏块表的保存方法,其特征在于,
在所述存储器中查找预定数量的好块作为坏块表保存块的步骤之前,还包括:
根据所述坏块信息,确定坏块表的备份数量;
根据所述坏块表的备份数量,确定所述预定数量;
所述根据所述坏块信息和坏块表保存块的标识符生成坏块表的步骤具体为:
根据所述坏块信息、坏块表保存块的标识符和所述坏块表的备份数量生成坏块表。
4.根据权利要求3所述的存储器坏块表的保存方法,其特征在于,
所述将至少一份所述坏块表写入所述坏块表保存块中的步骤具体为:
在所述坏块表保存块中存储一份所述坏块表;
按照所述坏块表的备份数量,在所述坏块表保存块中备份所述坏块表。
5.根据权利要求1所述的存储器坏块表的保存方法,其特征在于,所述存储器为NAND flash、NOR flash或ROM。
6.一种存储器坏块表的保存装置,其特征在于,包括:
判断模块,用于判断存储器的每个块是否为坏块,产生判断结果;
坏块信息生成模块,用于若所述判断结果为:所述块为坏块,则生成坏块信息;
查找模块,用于在所述存储器中查找预定数量的好块作为坏块表保存块;
坏块表生成模块,用于根据所述坏块信息和坏块表保存块的标识符生成坏块表;
写入模块,用于将至少一份所述坏块表写入所述坏块表保存块中;
所述的存储器坏块表的保存装置,还包括:
第一计算单元,用于根据所述判断结果,计算坏块数量;
第二计算单元,用于根据坏块表保存块的数量、所述坏块数量以及所述存储器中坏块表预留存储块的数量,计算所述存储器中已使用的块的数量;
记录单元,用于将所述存储器中已使用的块的数量记录在所述坏块表中。
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