[发明专利]偏移电测深装置以及偏移电测深方法有效
申请号: | 200910081025.8 | 申请日: | 2009-03-27 |
公开(公告)号: | CN101509980A | 公开(公告)日: | 2009-08-19 |
发明(设计)人: | 于昌明;刘建明;曾庆栋;叶杰 | 申请(专利权)人: | 中国科学院地质与地球物理研究所 |
主分类号: | G01V3/02 | 分类号: | G01V3/02;G01V3/38 |
代理公司: | 北京中创阳光知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 尹振启 |
地址: | 100029北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 偏移 测深 装置 以及 方法 | ||
1.一种偏移电测探装置,其特征在于,包括:
电法发送机(F),用于提供测量电流,该电法发送机包括近端供电电极(A)和与所述近端供电电极相隔相当远距离布置的远端供电电极(B);
至少两套电法接收机(V),该电法接收机包括不少于2个测量电极(M1、M2......Mn),所述测量电极与待勘测区域中布置的供电基线平行且偏移一定合理距离被布置,测量电极之间的连线构成测量线,即测量线沿着平行于布置的供电基线被布置,测量线与供电基线之间的垂直距离即为偏移距离,该电法接收机用于读取测量相邻两个电极之间测量偶极的一次电位差和/或二次电位差和/或充电率;以及
偏移处理器,用于基于偏移距离、近端供电电极(A)在各条测量线上的垂直投影点至测量电极之间的距离和获取读数的相邻两个测量电极之间的距离,以对从所述至少两套电法接收机读取的数据进行偏移校正,进而获取最终的测量校正读数;所获取的最终测量校正参数包括电阻率。
2.根据权利要求1所述的电测探装置,其特征在于,所述偏移处理器为预编程的可执行指令、计算器和/或用于数据处理的软件。
3.根据权利要求2所述的电测探装置,其特征在于,任意两个相邻测量电极之间的间隔距离为等距离布置,且该距离与近端供电电极(A)到各自测量线的投影点至测量电极之间的距离成比例,从而便于偏移处理器的计算。
4.一种偏移电测探方法,其特征在于,包括以下步骤:
提供电法发送机(F),并将其近端供电电极(A)布置在待勘测区域的某一位置,将其远端供电电极(B)距离所述近端供电电极(A)相隔相当远距离布置,以形成无穷远极,使近端供电电极(A)供电形成的电场为点电源场;
提供至少两套包括若干个测量电极(M1、M2......Mn)的电法接收机(V),所述测量电极与待勘测区域中布置的供电基线平行且偏移一定合理距离被布置,测量电极之间的连线构成测量线,即测量线沿着平行于布置的供电基线被布置,也即沿着平行于布置的供电基线的各自测量线布置,测量线与布置的供电基线之间的垂直距离即为偏移距离,分别从各个电法接收机读取两个相邻测量电极之间的一次电位差和/或二次电位差和/或充电率;
对于从布置每个测量线上的电法接收机获取的读数,基于偏移距离、近端供电电极(A)在各条测量线的投影点至测量电极之间的距离和获取读数的两个测量电极之间的距离,执行偏移校正,并计算出最终的测量校正读数。
5.根据权利要求4所述的偏移电测探方法,其特征在于,所述执行偏移校正步骤具体为,通过两个测量电极的中点(0)与近端供电极(A)之间的连线、近端供电极(A)到各自测量线的投影点(A1、A2、A3、A4)的连线、以及各投影点与上述中点的连线所构成的直角三角形,基于偏移距离、近端供电电极(A)在各条测量线的投影点至测量电极之间的距离和获取读数的两个测量电极之间的距离,以计算出偏移系数,然后利用该偏移系数执行偏移校正。
6.根据权利要求4所述的偏移电测探方法,其特征在于,将用于获取读数的相邻两个测量电极之间的距离布置为等距离,且将所述近端供电电极(A)在各条测量线的投影点至测量电极之间的距离布置为与获取读数的相邻两个测量电极之间的距离成比例。
7.根据权利要求4所述的偏移电测探方法,其特征在于,进一步包括将对于每条测量线计算出的最终测量校正读数按照已知的数据处理方法单独绘制拟断面图。
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