[发明专利]两端结构中长波同时响应量子阱红外探测器及其制作方法无效
申请号: | 200910081985.4 | 申请日: | 2009-04-15 |
公开(公告)号: | CN101866933A | 公开(公告)日: | 2010-10-20 |
发明(设计)人: | 霍永恒;马文全;种明;张艳华;陈良惠 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L27/144 | 分类号: | H01L27/144;H01L21/8252 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汤保平 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 两端 结构 长波 同时 响应 量子 红外探测器 及其 制作方法 | ||
1.一种两端结构中长波同时响应量子阱红外探测器,包括:
一半绝缘半导体GaAs衬底,作为整个器件的承载体;
一第一半导体GaAs接触层,制作在半绝缘半导体GaAs衬底上,在第一半导体GaAs接触层中掺杂n型杂质,起到缓冲衬底和其它层之间应力的作用,又充当了器件的下接触层,用来连接外部偏置电压,传导电流;
一第一多量子阱红外探测器,制作在第一半导体GaAs接触层上,其量子阱内掺杂n型杂质,用于探测位于中波大气窗口的红外辐射,该第一多量子阱红外探测器的面积小于第一半导体GaAs接触层的面积,而位于第一半导体GaAs接触层的一侧,在第一半导体GaAs接触层的另一侧形成一台面;
一第二半导体GaAs接触层,制作在第一多量子阱红外探测器上,其中掺杂n型杂质,起到将上下两个探测器在电学上串联起来的作用;
一第二多量子阱红外探测器,制作在第二半导体GaAs接触层上,其量子阱内掺杂n型杂质,用于探测位于长波大气窗口的红外辐射;
一第三半导体GaAs接触层,制作在第二多量子阱红外探测器上,其中掺杂n型杂质,起到保护整个器件的作用,并作为上接触层,用来连接外部偏置电压,传导电流;
一上接触电极和一下接触电极分别制作在第三半导体GaAs接触层上面和第一半导体GaAs接触层形成的台面上。
2.根据权利要求1所述的两端结构中长波同时响应量子阱红外探测器,其中第一、第二和第三半导体GaAs接触层的层厚为300-700纳米。
3.根据权利要求1所述的两端结构中长波同时响应量子阱红外探测器,其中第一、第二多量子阱红外探测器,其各自内部由多个相同的重复单元构成。
4.根据权利要求3所述的两端结构中长波同时响应量子阱红外探测器,其中该第一多量子阱红外探测器的每一个重复单元包括:
一第一AlXGa1-XAs势垒层,用来限制电子;
一第一GaAs层,制作在第一AlXGa1-XAs势垒层上,改善量子阱的界面质量;
一InXGa1-XAs量子阱层,制作在第一GaAs层上,其中掺杂n型杂质,提供载流子;
一第二GaAs层,制作在InXGa1-XAs量子阱层上,改善量子阱的界面质量;
一第二AlXGa1-XAs势垒层,制作在第二GaAs层上,用来限制电子。
5.根据权利要求3所述的两端结构中长波同时响应量子阱红外探测器,其中该第二多量子阱红外探测器的每一个重复单元包括:
一第一AlXGa1-XAs势垒层,用来限制电子;
一GaAs量子阱层,制作在第一AlXGa1-XAs势垒层上,其中间部位掺杂n型杂质,提供载流子;
一第二AlXGa1-XAs势垒层,制作在GaAs量子阱层上,用来限制电子。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的