[发明专利]离散成像器件统计调制传递函数激光散斑测量方法和装置

权利要求书

1.一种激光散斑法测量离散成像器件的统计调制传递函数测量的方法，其特征在于：将散斑投射到离散成像器件靶面上做为输入，离散成像器件采取散斑图即为输出，对散斑图做数据处理得到输出的功率谱密度，通过输入和输出的功率谱密度对比，得到离散成像器件的统计调制传递函数。

2.根据权利要求1所述的一种激光散斑法测量离散成像器件的统计调制传递函数测量的方法，其特征在于具体测量过程为：

a.将离散成像器件统计调制传递函数测量装置置于避光处，将激光器、激光扩束镜、随机散射体、孔径光阑、偏振片、待测量离散成像器件依次置于同一条直线上，保证其共光轴。孔径光阑紧贴随机散射体出射表面，偏振片置于孔径光阑之后，紧贴孔径光阑；

b.调整随机散射体出射平面孔径光阑的直径大小和待测离散成像器件的位置，使投射到离散成像器件靶面上的散斑的功率谱密度截止频率足够高，在器件奈奎斯特频率的两倍处降为零；

c.通过带有图像采集卡的计算机采集离散成像器件探测到的激光散斑图，并对散斑图的数据进行处理得到散斑图的功率谱密度，与输入激光散斑功率谱密度对比就可得到离散成像器件的调制传递函数。

3.根据权利要求1所述的一种激光散斑法测量离散成像器件的统计调制传递函数测量的方法，其特征在于：功率谱密度可以通过采用周期图谱估计方法或模型谱估计方法计算得到。

4.根据权利要求1所述的一种激光散斑法测量离散成像器件的统计调制传递函数测量的方法，其特征在于：通过改变数据处理方式，获得整个离散探测器阵列的调制传递函数或者某一区域的调制传递函数。

5.一种激光散斑法测量离散成像器件的统计调制传递函数测量装置，其特征在于包括激光器、激光扩束镜、随机散射体、孔径光阑、偏振片、待测量离散成像器件和带有图像采集卡的计算机；待测量离散成像器件通过图像采集卡连接到计算机上；激光器、激光扩束镜、随机散射体、孔径光阑、偏振片、待测量离散成像器件依次置于同一条直线上，并且共光轴；孔径光阑紧贴随机散射体出射表面，偏振片置于孔径光阑之后，紧贴孔径光阑；计算机包含相应图像采集和数据处理软件；激光器发出的激光，经过激光扩束镜扩束后，照射到随机散射体上产生散斑，通过调整散斑出射面孔径的大小和离散成像器件的位置，可以调整照射到离散成像器件上激光散斑的功率谱密度(PSD)，通过对接收到的图像进行频谱分析，对比输入的PSD，即可得到离散成像器件的统计调制传递函数(MTF)。

6.根据权利要求5所述的一种激光散斑法测量离散成像器件的统计调制传递函数测量装置，其特征在于：所述随机散射体可以是毛玻璃，也可以是随机微透镜阵列或者积分球。