[发明专利]一种光纤延迟量的低相干测量方法及系统

权利要求书

1.一种光纤延迟量的低相干测量方法，其特征在于，包括：

将等光强的两路光中的第一路光通过预定长度的光纤，调整第二路光的光程并使两 路光产生干涉条纹，标记所述干涉条纹的零级中心条纹的位置；

改变第一路光通过的光纤的长度，再次调整第二路光的光程并使两路光产生干涉条 纹，使两路光产生干涉条纹的零级中心条纹的位置与标记的零级中心条纹的位置重合， 记录第二路光在第二次调整过程中的光程改变量；

通过以下公式计算获得改变长度的光纤的延迟量：

Δt=Sc=n1Lc]]>

其中S表示第二路光在第二次调整过程中的光程改变量，c为真空中的光速，n₁表示 第一路光通过光纤的纤芯折射率，L表示光纤改变的长度，Δt表示L对应的延迟量。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述调整第二路光的光程并使两路光 产生干涉条纹包括通过调整可变光路器件使第二路光通过所述可变光路器件的光程与第 一路光通过所述预定长度的光纤的光程相等。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述零级中心条纹为两路光所产生的 所有干涉条纹中最亮的一条亮条纹。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述改变第一路光通过的光纤的长度 包括调整光纤延迟模块的光纤延迟量。

5.一种实现权利要求1所述的光纤延迟量的低相干测量方法的测量系统，其特征在 于，包括：

光源模块，用于产生等光强的两路光；

光纤延迟模块，用于使第一路光通过预定长度的光纤以及改变第一路光通过的光纤 的长度；

可变光路器件，用于调整第二路光的光程使两路光产生干涉条纹，并使第二次调整 过程中两路光产生干涉条纹的零级中心条纹的位置与标记的零级中心条纹的位置重合；

光路采集模块，用于记录第二路光在第一次调整过程中干涉条纹的零级中心条纹的 位置以及第二路光在第二次调整过程中的光程改变量；

光路计算模块，用于通过以下公式计算获得改变长度的光纤的延迟量：

Δt=Sc=n1Lc]]>

其中S表示第二路光在第二次调整过程中的光程改变量，c为真空中的光速，n₁表示 第一路光通过光纤的纤芯折射率，L表示光纤改变的长度，Δt表示L对应的延迟量。

6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述调整第二路光的光程使两路光产 生干涉条纹包括通过调整可变光路器件使第二路光通过所述可变光路器件的光程与第一 路光通过所述预定长度的光纤的光程相等。

7.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述零级中心条纹为两路光所产生的 所有干涉条纹中最亮的一条亮条纹。

8.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述改变第一路光通过的光纤的长度 包括调整光纤延迟模块的光纤延迟量。