[发明专利]一种用于读数据采样的温度自适应调整方法及装置

权利要求书

1.一种存储控制器中的读数据采样装置，包括一时钟输出电路、一初 次采样电路和一数据同步电路，其特征在于，还包括连接在该初次采样电路 和数据同步电路之间的一温差补偿电路，其中：

该温差补偿电路用于使用采样时钟CLK₂₁和CLK₂₂分别对初次采样电路 输出的读数据进行第二次采样，在工作温度小于一阈值温度时，将CLK₂₁采样到的读数据延迟k*T后输出，否则，将CLK₂₂采样到的读数据直接输出 或延迟(k-1)*T后输出；

该数据同步电路以该存储控制器的内部时钟或其延迟后的信号为采样 时钟CLK₃，对温差补偿电路输出的读数据或其延迟后的数据进行采样；

其中，T为一个时钟周期，k＝1，2，...，CLK₂₁为该时钟输出电路输出的 一存储器工作时钟经输入IO端口反馈回该存储控制器内的反馈时钟或其延 迟后的信号，CLK₂₂为该反馈时钟的反相信号或其延迟后的信号。

2.如权利要求1中的读数据采样装置，其特征在于：

该时钟输出电路用于将该存储控制器的内部时钟或其反相信号经输出 IO端口输出，作为一存储器的工作时钟；

该初次采样电路用于以该存储器的数据选通信号或其延后的信号为采 样信号，对该存储器输出的读数据进行初次采样，每一时钟周期将初次采样 到的一组读数据输出或延迟后输出。

3.如权利要求1或2中的读数据采样装置，其特征在于：

该温差补偿电路用该内部时钟或其延迟后的信号对该反馈时钟或其另 一延迟后的信号采样并保证在DDR器件的整个工作范围内可采样到不同电 平，采样到第一电平则选择CLK₂₁，采样到的读数据延迟k*T后输出，采样 到第二电平则选择CLK₂₂，采样到的读数据直接输出或延迟(k-1)*T后输出， 稳定地采样到第二电平的最低温度为该阈值温度。

4.如权利要求3中的读数据采样装置，其特征在于：

该温差补偿电路包括第一采样单元、第二采样单元、第三采样单元、第 四采样单元和选择器，该第一采样单元和第二采样单元的数据输入端均连接 到初次采样电路的数据输出端，第一采样单元的数据输出端连接到第三采样 单元的数据输入端，第二采样单元和第三采样单元的数据输出端连接到该选 择器不同的输入端，该第一采样单元和第三采样单元以CLK₂₁为采样时钟， 该第二采样单元以CLK₂₂为采样时钟；

该第四采样单元以该内部时钟或其延迟后的信号为采样时钟，其数据输 入端连接该反馈时钟或其另一延迟后的信号，其数据输出端连接到该选择器 的选通控制端，该选择器在第四采样单元输出为第一电平时，选通第三采样 单元连接到的输入端，在第四采样单元输出为第二电平时，选通第二采样单 元连接到的输入端；

所述采样单元在时钟上升沿或下降沿采样并输出采样到的数据，在下一 次采样再更新输出数据。

5.如权利要求4中的读数据采样装置，其特征在于，还包括在该读数 据采样装置的元件之间设置的一个或多个延时器。

6.如权利要求1或2中的读数据采样装置，其特征在于：

还包括一温度检测装置；该温差补偿电路根据实时检测到的工作温度与 预设的阈值温度的比较结果，判断工作温度是否小于该阈值温度。