[发明专利]分析光学元件保偏特性的方法

权利要求书

1.一种分析光学元件保偏特性的方法，包括如下步骤：

步骤1：由第一宽波段线偏振片和第一宽波段四分之一波长波片组成极化单元，由第二宽波段四分之一波长波片和第二宽波段线偏振片组成检测单元，在同一光路上依次排列有激光器、极化单元、检测单元和光功率计，以构成探测系统；

步骤2：调节极化单元，即调节第一宽波段线偏振片光轴与第一宽波段四分之一波长波片光轴的相对角度，使激光器出射的入射光成为完全极化的左旋或右旋圆偏振光；

步骤3：调节检测单元，即调节第二宽波段四分之一波长波片光轴与第二宽波段线偏振片光轴的相对角度，使其只允许与步骤二中入射光偏振特性相反的右旋或左旋圆偏振光通过，则此时入射光不能到达光功率计，从而光功率计的读数只是环境光的反映；

步骤4：在极化单元和检测单元之间插入待测的光学元件；

步骤5：读取光功率计的读数，若待测光学元件对入射光的偏振状态有所改变，光功率计的读数将有所增加；若待测光学元件对入射光的偏振状态没有改变，则光功率计的读数不变，仍然只反映环境光的强度。

2.根据权利要求1所述的分析光学元件保偏特性的方法，其中采用的第一宽波段线偏振片和第二宽波段线偏振片，在可见到近红外的波长范围内消光比为100000∶1，以保证所进行测量的准确性。

3.根据权利要求1所述的分析光学元件保偏特性的方法，其中采用的第一宽波段四分之一波长波片和第二宽波段四分之一波长波片，在690-1200nm的波长范围内消色差，以满足在该波长范围内所进行测量的准确性。

4.根据权利要求1所述的分析光学元件保偏特性的方法，其中所采用的激光器，是工作在任何需要测试的波长的各种激光器。

5.根据权利要求1所述的分析光学元件保偏特性的方法，其中所采用的光功率计，是带衰减器的硅芯片探测器，其探测灵敏度在可见到近红外的波长范围内达到皮瓦量级，以保证所进行探测的准确性。