[发明专利]双能X射线阵列探测器

权利要求书

1.一种双能X射线阵列探测器，其特征在于，该双能X射线阵列探测器在沿X射线的入射方向上依序包括第一闪烁体阵列、第一光电二极管阵列、第一滤波片、PCB板、第二滤波片、第二光电二极管阵列和第二闪烁体阵列，所述第一闪烁体阵列、第一光电二极管阵列、第一滤波片、第二滤波片、第二光电二极管阵列和第二闪烁体阵列均集成在所述PCB板上。

2.依照权利要求1的双能X射线阵列探测器，其中，所述双能X射线阵列探测器在所述第一闪烁体阵列之前还包括准直器阵列。

3.依照权利要求1或2的双能X射线阵列探测器，其中，在所述PCB板上还集成有数据采集电路。

4.依照权利要求1或3的双能X射线阵列探测器，其中，实现所述集成的方式为焊接或粘接。

5.依照权利要求1或2的双能X射线阵列探测器，其中，所述各阵列中所包含的元器件数量均相同。

6.依照权利要求5的双能X射线阵列探测器，其中，所述各阵列间的相应元器件互相对准。

7.依照权利要求1、2或6的双能X射线阵列探测器，其中，所述第一闪烁体阵列和第二闪烁体阵列由同一种闪烁体材料组成。

8.依照权利要求1、2或6的双能X射线阵列探测器，其中，所述第一闪烁体阵列和第二闪烁体阵列由不同闪烁体材料组成。

9.依照权利要求7的双能X射线阵列探测器，其中，所述闪烁体材料选自下述材料：CsI(Tl)、CdWO₄、GOS、ZnSe、YAG。

10.依照权利要求8的双能X射线阵列探测器，其中，所述不同闪烁体材料分别选自下述材料：CsI(Tl)、CdWO₄、GOS、ZnSe、YAG。

11.依照权利要求1、2或6的双能X射线阵列探测器，其中，所述第一滤波片和/或第二滤波片的材料为铜、银或金，或者是含铜、银或金的合金材料。

12.依照权利要求1、2或6的双能X射线阵列探测器，其中，在所述第一闪烁体阵列中沉积能量的X射线光子的能量低于在所述第二闪烁体阵列中沉积能量的X射线光子的能量。