[发明专利]一种低温快速沉积硫化铜纳米薄膜的方法无效

专利信息
申请号: 200910088841.1 申请日: 2009-07-20
公开(公告)号: CN101638777A 公开(公告)日: 2010-02-03
发明(设计)人: 汪浩;忻睦迪;李坤威;严辉 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: C23C18/14 分类号: C23C18/14;C01G3/12
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司 代理人: 魏聿珠
地址: 100124*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 低温 快速 沉积 硫化铜 纳米 薄膜 方法
【权利要求书】:

1.一种低温快速沉积硫化铜纳米薄膜的方法,其特征在于,包括以下步骤:

a)衬底的预处理:将衬底依次用甲苯、丙酮、乙醇在超声清洗器中充分清洗后,再用去离子水冲洗,并浸泡在乙醇中备用;

b)将Cu(Ac)2粉末溶解于去离子水中,充分搅拌均匀,加入与Cu(Ac)2等物质的量的络合剂EDTA-2Na,持续搅拌溶液,得到澄清透明的蓝色溶液A;

c)向溶液A中加入NaOH溶液和HCl溶液调节pH值至6~10,得到溶液B;

d)向溶液B中缓慢加入与Cu(Ac)2等物质的量的硫代乙酰胺,并搅拌均匀,得到澄清透明溶液C;

e)将经过预处理的衬底用氮气吹干,放入溶液C中,使衬底倒置漂浮于溶液C表面,微波辐照20min~40min,得到CuS薄膜。

2.根据权利要求1所述的一种低温快速沉积硫化铜纳米薄膜的方法,其特征在于,所述衬底为导电衬底或者半导体衬底。

3.根据权利要求2所述的一种低温快速沉积硫化铜纳米薄膜的方法,其特征在于,所述导电衬底为FTO玻璃,所述的半导体衬底为硅(100)。

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