[发明专利]一种亚波长高折射率介质孔金属结构透镜无效

专利信息
申请号: 200910089256.3 申请日: 2009-07-10
公开(公告)号: CN101604034A 公开(公告)日: 2009-12-16
发明(设计)人: 周崇喜;陈素娟;邱传凯 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G02B3/00 分类号: G02B3/00
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 代理人: 成金玉;卢 纪
地址: 610209*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 波长 折射率 介质 金属结构 透镜
【权利要求书】:

1、一种亚波长高折射率介质孔金属结构透镜,其特征于:所述的透镜由均匀厚度的金属板中镶嵌折射率大于2的高折射率介质方孔,并在透镜的入射面和出射面分别镀上一层增透膜构成,所述透镜制作如下:

(1)确定所述透镜的入射波长λ、基底材料、金属板材料、填充入的高折射率介质材料和增透膜材料;

(2)确定基底的口径为L,金属板的厚度为h,将基底放置于xy平面且中心在原点处,假设入射光垂直于基底沿z轴正方向入射;

(3)在金属板上坐标(x,y)处制作边长为a的介质方孔,根据公式(1)得到该点出射面的相位与介质方孔边长之间的关系为:

其中φ(x,y)表示该点的相位,λ表示入射波长,h表示金属板的厚度,a表示金属板上介质方孔的边长,通过在金属板上制作介质孔,完成该点处所需的相位调制;

(4)由所设计的透镜焦距f,通过衍射理论求得表面任意点(x,y)处的相位φ,该点相位与该点位置以及入射波长之间的关系为:

其中m为任意整数,选取m值,使得位相φ(x,y)处于0到2π之间;

(5)在金属板口径L上进行取样,根据步骤(4)中的公式(2)计算得到每个抽样点的相位延迟,然后根据步骤(1)中的公式(1)计算得到每一取样点所对应介质方孔的大小,从而在金属板中嵌入不同大小的高折射率介质孔结构,并在两面镀上一层增透膜,从而能实现亚波长高折射率介质孔金属结构透镜。

2、根据权利要求1所述的亚波长高折射率介质孔金属结构透镜,其特征在于:所述步骤(1)中的金属板材料为金、银、铜或铝。

3、根据权利要求1所述的亚波长高折射率介质孔金属结构透镜,其特征在于:所述步骤(1)中的填充介质材料以及基底材料为:红外材料包括硅或锗;或可见光材料,包括石英或者玻璃。

4、根据权利要求1所述的亚波长高折射率介质孔金属结构透镜,其特征在于:所述步骤(1)中的增透膜材料为硅或锗,或ZnS。

5、根据权利要求1所述亚波长高折射率介质孔金属结构透镜,其特征在于:所述步骤(2)中的金属板的厚度为0.3λ~2λ,其中λ为入射波长。

6、根据权利要求1所述的亚波长高折射率介质孔金属结构透镜,其特征在于:所述步骤(3)中的介质方孔大小变化范围在0.13λ~0.5λ。

7、根据权利要求1所述的亚波长高折射率介质孔金属结构透镜,其特征在于:所述步骤(3)和步骤(5)中的高折射率介质孔的边长小于入射波长,即为亚波长量级。

8、根据权利要求1所述的亚波长高折射率介质孔金属结构透镜,其特征在于:所述步骤(4)中透镜上各取样点按正方形排布、或平方点阵排布、可旋转对称式排布、或按照随机排布以及其他非规则排布,只要孔的深度在位置(x,y)满足(1)式和(2)式要求,并且孔与孔之间不发生交叠即可。

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