[发明专利]一种X射线荧光激发检测装置

权利要求书

1.一种X射线荧光激发检测装置，用于检测矿物样品中的矿物品位，其特征在于，该装置包括安装基架、样品承载装置、X射线发生装置和多个探测装置；所述的样品承载装置、X射线发生装置和多个探测装置固定安装于安装基架上，并且X射线发生装置与样品承载装置相通，探测装置与样品承载装置相通；

所述的安装基架包括中空孔、安装法兰和多个探测装置安装件，中空孔设于安装基架轴向中部，安装法兰设于安装基架的一个端面上并与中空孔垂直，安装法兰的外侧面设有样品承载装置安装孔；

所述的样品承载装置包括样品进口、样品出口和样品承载盒体，所述的样品进口和样品出口分别设于样品承载盒体的上部和下部，所述的样品承载盒体与安装基架的安装法兰相连接，并且样品承载盒体与X射线发生装置在同一轴线上，样品承载盒体通过铰接安装于所述安装法兰上；

所述的安装基架中空孔包括具有同一中心线的台阶孔，并且靠近两端部的台阶孔直径大于中部的台阶孔；其中，远离安装法兰的端部台阶孔内径与X射线发生装置相适应，设有安装法兰端部台阶孔与多个探测装置安装件相连通；

多个探测装置安装件设于安装基架与中空孔平行的外表面，所述的多个探测装置安装件包括多个与中空孔中心线平行的导槽，每个导槽能插入一个探测装置；

所述的探测装置小于或等于六个。

2.根据权利要求1所述的X射线荧光激发检测装置，其特征在于，所述的探测装置包括分光装置和X射线探测器，其中分光装置与X射线探测器连接。

3.根据权利要求2所述的X射线荧光激发检测装置，其特征在于，所述探测装置中的分光装置与安装基架的探测装置安装件相连接。

4.根据权利要求1所述的X射线荧光激发检测装置，其特征在于，所述的X射线发生装置与样品承载装置相通包括X射线发生装置所发出的X射线直接照射样品承载装置的样品；所述的探测装置与样品承载装置相通包括样品承载装置中的样品受X射线激发后所发出的二次X射线传输到探测装置。