[发明专利]千万级一对多人脸识别产品的测试系统与测试方法无效
申请号: | 200910089906.4 | 申请日: | 2009-07-28 |
公开(公告)号: | CN101615196A | 公开(公告)日: | 2009-12-30 |
发明(设计)人: | 田青;宛根训;田强;李建勇 | 申请(专利权)人: | 公安部第一研究所;北京中盾安全技术开发公司 |
主分类号: | G06F17/30 | 分类号: | G06F17/30;G06K9/00 |
代理公司: | 北京双收知识产权代理有限公司 | 代理人: | 李云鹏 |
地址: | 100048北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 千万 一对 多人脸 识别 产品 测试 系统 方法 | ||
1.一种千万级一对多人脸识别产品的测试系统,包括计算机结构和数据库结构,其特征在于,所述计算机结构和数据库结构设置:
一个图像数据存储单元(1)及与其相连的图像数据库(10):用于存储测试人脸识别产品的所有图像样本;
一个模板数据存储单元(2)及与其相连的模板数据库(20):用于存储被测人脸识别产品生成的特征模板;
一个结果数据存储单元(3)及与其相连的结果数据库(30):用于存储被测人脸识别产品比对的结果数据;
一个特征模板提取单元(4):用于提取所述图像数据库(10)中被测图像样本的特征模板,特征模板提取完成后,把特征模板通过所述模板数据存储单元(2)存储到所述模板数据库(20)中;
一个比对请求单元(6):用于发送比对指令;
一个比对单元(5):用于将所述模板数据库(20)中的特征模板数据装载到本地内存中,同时接受所述比对请求单元(6)发送的比对指令,在本地进行比对,在比对完成后把比对结果数据通过所述结果数据存储单元(3)存储到所述结果数据库(30)中;
所述特征模板提取单元(4)与所述图像数据存储单元(1)和模板数据存储单元(2)分别相互连接,所述比对请求单元(6)与所述比对单元(5)相连,所述比对单元(5)与所述模板数据存储单元(2)和结果数据存储单元(3)分别相互连接;
其中,所述比对单元(5)设置一对多特征比对模板,所述一对多特征比对模板用于获取至少包括查询速度、内存加载时间、正确报警率、查全率和漏报率的测试指标。
2.根据权利要求1所述的千万级一对多人脸识别产品的测试结构,其特征在于,图像数据存储单元(1)、模板数据存储单元(2)、结果数据存储单元(3)、特征模板提取单元(4)、比对单元(5)、比对请求单元(6)分别为一台计算机或由通过网络连接的多个计算机组成。
3.根据权利要求1或2所述的千万级一对多人脸识别产品的测试系统,其特征在于,其中每个所述特征模板提取单元(4)设置用于同时运行多个建模进程的若干个计算机,每个建模进程分别提取所述图像数据库(10)中被测图像样本的特征模板,并存储到所述模板数据存储单元(2)。
4.根据权利要求3所述的千万级一对多人脸识别产品的测试系统,其特征在于,其中所述比对单元(5)存储到所述结果存储单元(3)中的比对结果数据按照比对结果协议规定采用统一数据结构存储包括所有计算机的比对结果数据和汇总后的比对结果数据。
5.一种千万级一对多人脸识别产品的测试方法,包括:
建库步骤,挑选测试样本,组件测试样本库,并把测试样本库存放到图像数据库中;
被测产品提交步骤,被测产品按照测试协议提交到测试系统,测试协议主要包括测试接口协议和比对结果存储协议;
特征模板提取步骤,被测产品对测试样本库中目标库图像进行特征模板提取,并把特征模板存储到模板数据库中;
特征模板加载步骤,被测产品从模板数据库中把特征模板平均加载到比对单元计算机的本地内存;
比对步骤,用待测人脸识别产品对测试样本库进行比对,得到比对结果,并把比对结果存储到结果数据库中;
结果统计步骤,对比对步骤生成的比对结果进行统计,计算测试指标,绘制性能曲线。
6.根据权力要求5所述的千万级一对多人脸识别产品测试方法,其特征在于:在所述建库步骤中,所述测试样本库设置目标库、查询库A和查询库B,查询库A中被测人员至少有一幅图像在目标库中,查询库B中被测人员不在目标库内,查询库A中被测人员的图像在去相关性后均匀分布在目标库中。
7.根据权力要求6所述的千万级一对多人脸识别产品测试方法,其特征在于:在所述特征模板加载步骤中,被测产品的特征模板均匀分配到各个比对计算机本地内存中。
8.根据权力要求7所述的千万级一对多人脸识别产品测试方法,其特征在于:在所述比对步骤中,比对单元中每个比对计算机把各自的比对结果和总汇后的比对结果按照测比对结果存储协议规定的数据结构存储到结果数据存储单元中的结果数据库中。
9.根据权力要求8所述的千万级一对多人脸识别产品测试方法,其特征在于:在所述结果统计步骤中统计比对单元中各个比对计算机的比对结果,并计算相应的测试指标、绘制相应性能曲线;统计比对单元中任意两个比对计算机的汇总结果,并计算相应的测试指标、绘制相应性能曲线;依次类推,统计所有比对计算机的汇总结果,并计算相应的测试指标、绘制相应性能曲线。
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