[发明专利]工具痕迹光学共聚焦三维数据采集系统及其采集方法无效
申请号: | 200910091311.2 | 申请日: | 2009-08-17 |
公开(公告)号: | CN101630061A | 公开(公告)日: | 2010-01-20 |
发明(设计)人: | 刘晋;王明直;黄智宏 | 申请(专利权)人: | 公安部物证鉴定中心;北京和众视野科技有限公司 |
主分类号: | G02B21/36 | 分类号: | G02B21/36 |
代理公司: | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 孙皓晨;朱世定 |
地址: | 100038北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 工具 痕迹 光学 聚焦 三维 数据 采集 系统 及其 方法 | ||
1.一种工具痕迹光学共聚焦三维数据采集方法,其特征在于,其包括下列 步骤:
(801):将待检样品置于显微镜载物台上、设定显微镜载物台移动行程即 拍照上下边界以及拍照数量;
(802):移动控制模块控制显微镜光学系统行走一步;
(803):判断步进是否到位,如到位,执行(804),否则继续执行(803);
(804):数码成像设备拍摄一张图片;
(805):检测是否到达拍照下边界,如果是,执行(806),否则执行(802);
(806):执行图像分区步骤,即将图像分成多个微区;
(807):执行清晰度评价步骤,对第N张图片的所有微区位置的清晰度评价, 得到最清晰索引图,其中所述的清晰度评价步骤包括下列子步骤:
(8071):取聚焦序列图像的第一幅图像;
(8072):计算每个微区的清晰度值,即微区中各个点的8个邻域梯度之 和,得到对应这幅图的清晰度索引表D1;
(8073):取聚焦序列图像的第N幅图像;
(8074):计算每个微区的清晰度值,即微区中各个点的8个邻域梯度之 和,得到对应这幅图的清晰度索引表DN;
(8075):检测是否所有图像均处理过,如果是,执行(8076)步骤,如果 不是,执行(8073)步骤;
(8076):得到各个图像的对应索引表;
(8077):在清晰度索引表的每个位置比较索引值的大小,找到最大值对 应的图号,形成一张提取图索引表A1;
(808):执行图像融合提取步骤,在图像的每一位置,从序列图像中截取最 清晰的那一张的内容置于该位置,形成最终结果图;
(809):结束。
2.根据权利要求1所述的工具痕迹光学共聚焦三维数据采集方法,其特征 在于,所述的图像分区步骤是从图像上感兴趣区域的左上点(x1,y1)开始,将 图像分成M*N个微区。
3.根据权利要求2所述的工具痕迹光学共聚焦三维数据采集方法,其特征 在于,还包括一移动平均步骤:其是将图像分区步骤中的左上点(x1,y1)的 坐标都加1,成为左上点(x2,y2),重复步骤(807)和(808),得到清晰图 像融合图R2,如此循环L次,得到L个清晰图像融合图,将这些图的对应像点 位置值作算术平均,就得到一幅平滑的融合图。
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