[发明专利]光电一体式测试系统和光电测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及光电测试技术，尤其涉及一种光电一体式测试系统和光电测试方法。

背景技术

随着科技的不断发展，液晶显示面板基于其轻薄短小，大幅节省摆放空间等优点，得到了越来越广泛的应用。在液晶显示面板的生产过程中，液晶显示面板的测试步骤至关重要，其中对液晶显示面板的测试包括电学测试和光学测试，如半导体特性测试、光学测试、信号波形测试、点亮测试、电压透过率曲线测试等等。通常，液晶显示面板的测试阶段分为模块(Module)测试、单元(Cell)测试和阵列(Array)测试三个阶段。

在现有技术中，液晶显示面板的光学测试和电学测试是独立进行的，且需要分别使用不同的光学测试设备或电学测试设备来完成对液晶显示面板的测试。由于测试的项目不同，所使用的测试设备也不同，而且完成一个液晶显示面板的样品的测试通常需要在不同的测试设备之间不断移动测试样品，导致每项测试中测试样品的状态和测试环境均不相同，对于同一测试样品的测试结果的纵向对比和集中分析产生不利影响。另外，由于每项测试所对应的测试设备均不相同，而每个测试设备均具有单独的配套组件，占地面积较大，尤其对于大尺寸产品的测试，设备的使用面积会更大，使得整体的成本增加。

发明内容

本发明的目的在于提供一种光电一体式测试系统和光电测试方法，使得对液晶显示面板的光学测试和电学测试均在一台设备上完成，在进行各项测试时无需移动液晶显示面板测试样品，保证不同测试阶段中测试样品和测试状态的稳定性，减小测试设备的占地面积，节约整体的成本。

为了实现上述目的，本发明提供了一种光电一体式测试系统，包括支撑测试样品的测试基台，在所述测试基台内部设置有交换组件、集成控制组件和多个测试组件，各个所述测试组件与所述交换组件和所述集成控制组件相连，所述集成控制组件用于集中控制所述交换组件和所述多个测试组件。

进一步地，本发明提供的光电一体式测试系统还包括：

设置在所述测试基台表面上的机械导轨；

与所述机械导轨滑动连接的机械划臂；

活动安置在所述机械划臂上的光学镜头和显微镜头，用于对所述测试样品进行光学测试；

设置在所述机械划臂上的监视器，用于与所述光学镜头和显微镜头进行配合完成光学测试。

进一步地，本发明提供的光电一体式测试系统还包括多条低压差分信号线和数个探针，分别与所述多个测试组件连接，用于对所述测试样品进行探测。

进一步地，本发明提供的光电一体式测试系统还包括与所述集成控制组件相连的外接控制界面，用于与所述集成控制组件配合完成对所述多个测试组件和所述交换组件的控制。

具体地，所述集成控制组件为计算机主机系统，所述外接控制界面为计算机显示系统和计算机外设系统。

具体地，所述多个测试组件包括电流电压测试组件、信号发生组件、点灯机组件、示波器组件和直流电源组件。

具体地，所述交换组件为由多层印刷电路板和控制器件构成的交换机，所述印刷电路板的层数由所述测试组件的个数决定。

具体地，所述交换组件内部包括多个开关电路，分别位于所述多层印刷电路板上，用于分别对所述多个测试组件进行控制。

本实施例提供了一种光电测试方法，包括：

通过活动安置在光电一体式测试系统中机械划臂上的光学镜头和显微镜头、设置在所述机械划臂上的监视器、点灯机组件、信号发生组件、交换组件以及与测试样品连接的低压差分信号线和探针，对所述测试样品进行模块阶段的测试；

通过所述光电一体式测试系统中的所述交换组件、集成控制组件、直流电源组件、所述信号发生组件以及所述低压差分信号线和探针，对所述测试样品进行单元阶段的测试；

通过所述光电一体式测试系统中的所述交换组件、电流电压测试组件、示波器组件、所述点灯机组件以及所述低压差分信号线和探针，对所述测试样品进行阵列阶段的测试。