[发明专利]一种具有可控范围77K至400K温度的可控温度样品台无效

专利信息
申请号: 200910092237.6 申请日: 2009-09-08
公开(公告)号: CN101665236A 公开(公告)日: 2010-03-10
发明(设计)人: 崔益民;王荣明 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: B82B3/00 分类号: B82B3/00;G05D23/20
代理公司: 北京永创新实专利事务所 代理人: 周长琪
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 具有 可控 范围 77 400 温度 样品
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种样品台,更特别地说,是指一种适用于电子束-离子束微纳米加 工系统的可控温度样品台。该可控温度样品台由温控样品台和液氮冷却组件构成,液 氮冷却组件为温控样品台提供冷却介质。

背景技术

随着生产力水平的不断提高,能源问题成为人类面临的主要挑战,产品的微型化 是解决能源危机的手段之一,因此纳米科技成为目前国际上的研究热点。纳米科技是 一个前沿基础学科和高技术融为一体的完整体系,它包括纳米制造技术、纳米测量学、 纳米体系物理学、纳米化学、纳米生物学、纳米材料学、纳米电子学和纳米摩擦学等 分支学科,其中,对于涉及纳米材料和纳米器件的纳米制造技术而言,表征和测量是 必不可少的一环,而在测量方面,原位变温测量是当前纳米科学研究核心之一。如图 1所示,公开了一种常规的电子束-离子束微纳米加工系统,该系统包括有真空系统、 离子枪、电子枪、测温控制电路和扫描电镜样品台。待测样品置于扫描电镜样品台上, 真空系统为真空室提供真空度,离子枪出射的离子束作用到待测样品上,电子枪出射 的电子束作用到待测样品上,测温控制电路为加工待测样品提供温度的调节。尽管国 内外有很多适合于扫描电镜的变温样品台,其中有的仅能升温,有的生物扫描电镜的 样品台也仅能在200K以上,而适于双束系统的大范围变温的样品台还鲜见报道。

发明内容

本发明的目的是提供一种适用于电子束-离子束微纳米加工系统的、具有可控范 围77K至400K温度的可控温度样品台,该可控温度样品台由温控样品台1和液 氮冷却组件6构成,液氮冷却组件6为温控样品台1提供冷却介质;温控样品台1 安装在扫描电镜样品台上,液氮冷却组件6置于真空室外,在加工过程中,扫描电 镜样品台不需要大范围的倾斜或转动,减化了进行微纳料加工时的操作步骤。温控样 品台1通过液氮和线圈加热的共同作用,来实现待测样品的温度连续控制,可控温 度范围77K至400K,控温精度0.1K。

所述的温控样品台1由电加热丝103、样品台本体和底座107构成,样品台本 体安装在底座107上,电加热丝103缠绕在样品台本体的凹槽中。样品台本体上设 有水平加工面108、斜加工面101、空腔106、凹槽、A连接头104、B连接头105 和盲孔102;盲孔102内放置有用于采集待测样品在加工时的实际温度T1的温度传 感器4;A连接头104与液氮冷却组件6的液氮输出管61连通;B连接头105与 液氮流量调节组件的A三通接头71的c端连通;空腔106用于储存液氮,能够起 到快速降低样品台本体的温度。

所述的液氮冷却组件6包括有液氮、液氮瓶68、液氮输出管61、液氮添加管 63、压力表66、以及紫铜棒67上缠绕电加热线65构成的加温件,液氮罐装在液 氮瓶68内,液氮瓶68的瓶颈处安装有密封塞681,液氮瓶68的瓶口上安装有法 兰682,密封塞681和法兰682上分别设有多个通孔,这些通孔分别用于液氮输出 管61、液氮添加管63、连接压力表66的管道和紫铜棒67通过;加温件中的电加 热线65与测温控制电路5连接;压力表66用于测量液氮瓶68内的液氮在加温件 提供的加热条件下升温后产生的压力。

本发明的一种具有可控范围77K至400K温度的可控温度样品台的优点在于:

(1)由于温控样品台1上设有斜加工面101和水平加工面108的两个加工面,并 通过底座107将温控样品台1安装在扫描电镜样品台上,在进行纳米材料和 纳米器件的纳米制造过程中,扫描电镜样品只需进行平移操作,无需调节角度, 扫描电镜样品台更加稳定,成像更加清晰,对中精度高。

(2)通过设置在真空室外部的液氮冷却组件6为温控样品台1提供连续变温、也 可恒定温度的冷却介质,以及动态响应温度变化速度快的特点,使得本发明设 计的电子束-离子束微纳米加工系统特别适合原位变温物性测量。

(3)在原来的电子束-离子束微纳米加工系统中通过增加温控样品台1和液氮冷却 组件6,能够实现可控范围77K至400K温度变化的加工手段,其结构简单、 价格低廉,测温精度高,变温范围宽,适用离子束与原样品台倾斜的双束系统。

附图说明

图1是电子束-离子束微纳米加工系统的结构框图。

图2是本发明温控样品台置于真空室的装配图。

图2A是本发明温控样品台的剖面视图。

图2B是本发明温控样品台的外部结构图。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航空航天大学,未经北京航空航天大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910092237.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top