[发明专利]加速器剂量监测装置及校正方法、加速器靶点P偏移监测方法

权利要求书

1.一种X射线辐射成像系统中的加速器X射线剂量监测装置，其中所述X射线辐射成像系统包括：用于辐射X射线的加速器X射线源；用于对加速器X射线进行准直的准直器；用于探测穿透被检测物体之后的X射线剂量的检测探测器，所述加速器X射线剂量监测装置包括：

X射线剂量监测探测器，其中基于所述X射线剂量监测探测器监测到的X射线辐射剂量对检测探测器测量到的X射线剂量进行校正，其特征在于：

所述X射线剂量监测探测器设置在所述准直器的准直缝的至少一侧上，用于监测从加速器辐射出的X射线的剂量。

2.根据权利要求1所述的加速器X射线剂量监测装置，其中：

所述X射线剂量监测探测器包括第一、第二监测探测器部，所述第一、第二监测探测器部分别设置在所述准直器的准直缝的两侧上。

3.根据权利要求1所述的加速器X射线剂量监测装置，其中：

所述X射线剂量监测探测器由至少一个探测器模块组成。

4.根据权利要求3所述的加速器X射线剂量监测装置，其中：

所述X射线剂量监测探测器由多个探测器模块组成，所述多个探测器模块沿平行于所述准直缝的长度方向成线性排列。

5.根据权利要求2所述的加速器X射线剂量监测装置，其中：

所述第一、第二监测探测器部中的每一个由至少一个探测器模块组成。

6.根据权利要求5所述的加速器X射线剂量监测装置，其中：

所述第一、第二监测探测器部中的每一个由多个探测器模块组成，所述多个探测器模块沿平行于所述准直缝的长度方向成线性排列。

7.一种X射线辐射成像系统，包括：

用于辐射X射线的加速器X射线源；

用于对加速器X射线进行准直的准直器；

用于探测穿透被检测物体之后的X射线剂量的检测探测器；以及

用于对加速器辐射出的X射线剂量进行监测的加速器X射线剂量监测探测器，

其中基于所述X射线剂量监测探测器监测的X射线辐射剂量对检测探测器测量的X射线剂量进行校正，其特征在于：

所述X射线剂量监测探测器设置在所述准直器的准直缝的至少一侧上。

8.根据权利要求7所述的X射线辐射成像系统，其中：

所述X射线剂量监测探测器包括第一、第二监测探测器部，所述第一、第二监测探测器部分别设置在所述准直器的准直缝的两侧上。

9.根据权利要求7所述的X射线辐射成像系统，其中：

所述X射线剂量监测探测器由至少一个探测器模块组成。

10.根据权利要求9所述的X射线辐射成像系统，其中：

所述X射线剂量监测探测器由多个探测器模块组成，所述多个探测器模块沿平行于所述准直缝的长度方向成线性排列。

11.根据权利要求8所述的X射线辐射成像系统，其中：所述第一、第二监测探测器部中的每一个由至少一个探测器模块组成。

12.根据权利要求11所述的X射线辐射成像系统，其中：

所述第一、第二监测探测器部中的每一个由多个探测器模块组成，所述多个探测器模块沿平行于所述准直缝的长度方向成线性排列。

13.一种对X射线辐射成像系统中的加速器X射线剂量进行校正的方法，其中X射线辐射成像系统包括：用于辐射X射线的加速器X射线源；用于对加速器X射线源辐射的X射线进行准直的准直器；以及对穿透被检测物体之后的X射线剂量进行探测的检测探测器，所述方法包括步骤：

将用于对加速器辐射出的X射线剂量进行监测的X射线剂量监测探测器设置在所述准直器的准直缝的至少一侧上；

驱动加速器X射线源辐射X射线，并获得加速器X射线剂量监测装置监测的加速器辐射出的X射线剂量；以及

基于所述X射线剂量监测探测器监测的X射线辐射剂量对检测探测器测量的X射线剂量进行校正。

14.根据权利要求13所述的对X射线辐射成像系统中的加速器X射线剂量进行校正的方法，其中：

所述X射线剂量监测探测器由多个探测器模块组成，所述多个探测器模块沿平行于所述准直缝的长度方向成线性排列。