[发明专利]取向质检方法及装置

权利要求书

1.一种取向质检装置，其特征在于，包括：

固定架，用于固定形成有取向膜的待测基板；

光源，位于所述固定架下方；

第一偏光板，位于所述光源及固定架之间；

相位延迟元件，位于固定架的上方；

第二偏光板，位于所述相位延迟元件的上方；

摄像装置，位于所述第二偏光板的上方。

2.根据权利要求1所述的取向质检装置，其特征在于，还包括升降机构，与所述相位延迟元件及所述第二偏光板连接，用于升降所述相位延迟元件及第二偏光板的位置。

3.根据权利要求1所述的取向质检装置，其特征在于，还包括旋转机构，与所述第一偏光板或第二偏光板连接，用于旋转所述第一偏光板或第二偏光板。

4.根据权利要求1所述的取向质检装置，其特征在于，还包括移动机构，与所述摄像装置连接，用于移动所述摄像装置。

5.根据权利要求1所述的取向质检装置，其特征在于，还包括多个透明基板，所述透明基板用于承载固定所述第一偏光板、相位延迟元件或第二偏光板。

6.根据权利要求1所述的取向质检装置，其特征在于，还包括自动质检模块，所述自动质检模块与摄像装置电连接，所述自动质检模块包括存储模块、比较模块及计算模块，所述比较模块用于将所述摄像装置输出的图像信号与所述存储模块中预先存储的图像进行比较，并将比较结果输出至计算模块中，所述计算模块根据所述比较结果计算出不良率。

7.一种取向质检装置，其特征在于，包括：

固定架，用于固定形成有取向膜的待测基板；

光源，位于所述固定架下方；

相位延迟元件，位于固定架和光源之间；

第三偏光板，位于所述固定架的上方；

摄像装置，位于所述第三偏光板的上方。

8.根据权利要求7所述的取向质检装置，其特征在于，还包括升降机构，与所述相位延迟元件连接，用于升降所述相位延迟元件的位置。

9.根据权利要求7所述的取向质检装置，其特征在于，还包括移动机构，与所述摄像装置连接，用于移动所述摄像装置。

10.根据权利要求7所述的取向质检装置，其特征在于，还包括多个透明基板，所述透明基板用于承载固定所述相位延迟元件或第三偏光板。

11.根据权利要求7所述的取向质检装置，其特征在于，还包括自动质检模块，所述自动质检模块与摄像装置电连接，所述自动质检模块包括存储模块、比较模块及计算模块，所述比较模块用于将摄像装置输出的图像信号与所述存储模块中预先存储的无摩擦不良时的样品图像进行比较，并将比较结果输出至计算模块中，所述计算模块根据所述比较结果计算出不良率。

12.一种取向质检方法，其特征在于，包括：

将待测基板固定于固定架上；

移动相位延迟元件，到达所述待测基板的上方或下方的检测位置；

开启光源；

旋转第一偏光板、第二偏光板或第三偏光板；

开启并移动摄像装置行图像拍摄，并输出图像或影像信息；

根据图像或影像信息，判断摩擦不良是否发生。

13.根据权利要求12所述的取向质检方法，其特征在于，所述检测位置为离所述待测基板3mm以下，1mm以上的间距的位置。