[发明专利]单晶硅掺杂剂的生产工艺无效
申请号: | 200910097219.7 | 申请日: | 2009-03-26 |
公开(公告)号: | CN101565853A | 公开(公告)日: | 2009-10-28 |
发明(设计)人: | 石坚;俞峰峰 | 申请(专利权)人: | 石坚 |
主分类号: | C30B29/06 | 分类号: | C30B29/06;C30B15/04 |
代理公司: | 杭州九洲专利事务所有限公司 | 代理人: | 翁霁明 |
地址: | 314000浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 单晶硅 掺杂 生产工艺 | ||
技术领域
本发明涉及的是一种太阳能级的单晶硅生产方法,尤其是一种单晶硅掺杂剂的生产工艺。
背景技术
目前在生产太阳能级硅单晶材料时,其电阻率的控制是通过特定电阻率的母合金实现的。比如单晶硅投炉60kg,投入料的电阻率为20Ω·CM,型号为P型,要生产晶棒头部电阻率为1.5Ω·CM,型号为P型的硅棒,则在投入母合金时需要投入电阻率为0.0065Ω·CM的掺硼母合金48.4克。类似于电阻率为0.0065Ω·CM的掺硼母合金的是需要特殊加工的,而在实际生产过程中,往往出现低阻掺硼硅材料因为电阻率不匹配而无法正常使用,这样就造成了成本的浪费。
同时由于行业的技术标准不断提高,对于硅片的质量要求越来越严格,之前有些企业将低阻硅材料直接投入到硅料中,常常出现电阻率失控的情况,使生产出的硅棒电阻率超出范围,影响产品质量。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术存在的不足,而提供一种能提高低阻掺硼硅材料的利用率,降低制造成本,减少环境污染的单晶硅掺杂剂的生产工艺。
该工艺是将不同电阻率的掺硼低阻硅料进行重量和电阻率的测量,根据测量所得的掺硼低阻硅料的电阻率,依据如下公式(1)计算掺杂剂浓度:
式中:ρ-----电阻率Ω·cm;N----掺杂剂浓度cm-3;
在投料量为K0的情况下,不同浓度的母合金,达到相同晶体头部目标电阻率,则其重量比为:设母合金1的电阻率为ρ1,母合金2的电阻率为ρ2,母合金1掺杂剂的浓度为N(ρ1),母合金2掺杂剂的浓度为N(ρ2),母合金1的重量为W1,母合金2的重量为W2;掺母合金后,为达到相同的头部目标电阻率,则有如下公式(2):
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