[发明专利]基于X射线的密度、浓度和厚度测试装置及方法无效
| 申请号： | 200910099786.6 | 申请日： | 2009-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN101587052A | 公开（公告）日： | 2009-11-25 |
| 发明（设计）人： | 叶瑛;刘利光;秦华伟;夏枚生;潘依雯 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G01N9/24 | 分类号： | G01N9/24;G01B15/02 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 | 代理人： | 张法高 |
| 地址： | 310027*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 射线 密度 浓度 厚度 测试 装置 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于X射线的密度、浓度和厚度测试装置，其特征在于包括n形支架(1)、参比计数管(2)、工作计数管(3)、连接支架(5)、动力缆(6)、前置放大和模数转换(7)、抗干扰信号缆(8)、计算机(9)、射线源(10)、配电与控制系统(11)；在n形支架(1)两滑轨上分别设有参比计数管(2)、工作计数管(3)；参比计数管(2)通过连接支架(5)与射线源(10)连接；工作计数管(3)与前置放大和模数转换(7)、抗干扰信号缆(8)、计算机(9)依次连接；连接支架(5)和工作计数管(3)通过动力缆(6)与配电与控制系统(11)连接；所述的工作计数管(3)与参比计数管(2)的型号相同，所述的前置放大和模数转换(7)能按0.005～0.01秒的时间间隔同时采集参比计数管(2)和工作计数管(3)探测到的信号强度，并能自动求得工作计数管（3）信号强度与参比计数管(2)信号强度之比值。
2.根据权利要求1所述的一种基于X射线的密度、浓度和厚度测试装置，其特征在于所述的工作计数管是盖革计数管、正比计数管或闪烁计数管。
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