[发明专利]B超定位穿刺瞄准支架及其检测卡尺无效

专利信息
申请号: 200910104457.6 申请日: 2009-07-28
公开(公告)号: CN101612066A 公开(公告)日: 2009-12-30
发明(设计)人: 李国俊 申请(专利权)人: 李国俊
主分类号: A61B19/00 分类号: A61B19/00;A61B8/00;A61B5/107
代理公司: 重庆市恒信知识产权代理有限公司 代理人: 陆志强
地址: 402560重庆*** 国省代码: 重庆;85
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摘要:
搜索关键词: 定位 穿刺 瞄准 支架 及其 检测 卡尺
【说明书】:

一、技术领域

发明涉及医疗器械,尤其是一种B超定位穿刺瞄准支架和与它配套的测距、检验卡尺。 

二、技术背景

B超引导(或定位)下介入诊治技术,如肝肾穿刺活检、肝肾囊肿穿刺抽吸注药、经皮肾穿刺造瘘碎石术和深部脓肿或积液穿刺抽吸注药等,已在各地大中型医院普遍开展,但穿刺术本身尚存在明显不足,从而成为这类介入诊治技术发展的瓶颈。上述技术的开展情况:1、常规方法,是在B超概略定位或引导下穿刺,适用于较大的病灶,而对较小或位置较深的病灶则难于成功或者需要反复多次进针穿刺方能完成。2、借助一种存在多年的环上有孔的环套套在B超探头前部来辅助穿刺,因其不论从原理上还是从结构上讲,均不符合临床实际要求,仍属于概略定位的范畴,其应用效果差而少有使用。以上两种方式均存在穿刺准确性差、易误伤附近组织结构和成功率难以保证等问题。3、业内已研发出特制的穿刺专用B超探头有凹形槽结构,并少量用于临床,但由于其在穿刺操作部位存在盲区及价格高昂等因素使其应用受限而未能推广。 

三、发明内容

本发明的目的提供一种结构简单,在具有对称性结构的扁平状或条柱状B超探头一侧面的正中垂直平面上,使穿刺针的穿刺角度或方向既能够固定不变、又能够在一定的穿刺深度范围内任意调节(即定向和调距)的瞄准支架,以及提供一种与支架配套使用的测距、检验卡尺。 

B超定位穿刺瞄准支架所采取的技术方案是,包括有立板后缘为圆弧形滑边面、后下端向后连有立板直柄;导轨位于立板一侧,其内侧面有全长贯通的凹槽、中段上面有竖直靠板,其所述的立板中部下缘两侧连接一前抱环,立板直柄后段两侧连接一后抱环;立板中部开有圆弧形的滑槽孔,呈L形的导轨滑动和锁紧支架一支臂端穿过滑槽孔后与靠板及导轨垂直连接、另一支臂有内孔螺纹与锁紧螺栓啮合。。 

B超定位穿刺瞄准支架,所述的圆弧形滑边面与圆弧形滑槽孔为同一圆心,相互圆弧形边平行。 

B超定位穿刺瞄准支架,所述的立板前下角有突起块;立板前下边有缺孔。 

B超定位穿刺瞄准支架,所述的前抱环呈C形或封闭形,后抱环呈C形,C形抱环开口向下或向侧方;前抱环、后抱环的环杆上无或有内孔螺纹与限位螺栓啮合。 

B超定位穿刺瞄准支架,所述的立板前上角有缺口,在缺口竖直的立板两侧分别有限位横块B和限位横块A、水平的立板有带竖直圆孔的基座,呈F形转动滑动杆的上横杆与下横杆之间竖直杆段在基座的竖直圆孔内,F形转动滑动杆的上横杆有内孔螺纹与尖锥螺栓啮合。 

B超定位穿刺瞄准支架,所述的限位横块B下端有竖侧斜面;限位横块A下端面与带竖直圆孔的基座上端面之间有间距。 

B超定位穿刺瞄准支架配套使用的检测卡尺,包括有直柄、一侧面有刻度的直尺,所述的直柄前部两侧有呈U形前卡环、后部两侧有呈U形后卡环。 

检测卡尺,前卡环、后卡环的卡环杆上有或无内孔螺纹与螺栓啮合。 

检测卡尺,前卡环的卡环杆刻有等高线。 

对于扁平状B超探头,通常采用沿探头的宽侧表面前缘进针穿刺。显然,支架的前抱环后抱环,以开口向下的C形样式最适用;由于B超探头形状大小的多样性,采用抱环杆上增加限位螺栓的可调节方式能提高通用性。 

在穿刺操作过程中可能向前用力压B超探头,反作用于立板前边而导致立板带动整个支架向后滑动移位,设计立板前下角有突起块,即是为了防止立板向后过度滑动;以采用能活动的F形转动滑动杆结构(注:在F形转动滑动杆下滑侧转后,其下端即成为一竖突起,下横杆则为一横突起),能够活动而可直接调节的突起,更方便使用。增加下横杆(横突起)的目的是,在限制立板滑动的同时,附带增加另一种限制穿刺针移动的手段。 

对于条柱状B超探头,由于其前部宽度缩小而与厚度相差不大,可沿探头的厚侧表面前缘穿刺,其优点是能全程监视进针线或针道。对此种情形,前抱环、后抱环采用开口向侧方的C形或封闭形前闭环的式样较好,封闭形环抱结构更牢固而不易变形损坏。 

测距、检验卡尺(简称检测卡尺),用来①测量在B超探头中轴线上穿刺所需深度(与病灶深度相等),进而确定穿刺针(表面有刻度)实际进针的深度;②检验支架立板与曲面B超探头是否垂直;③检验支架最终的主要效果之一即穿刺针(尖)方位是否固定或偏摆。 

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