[发明专利]粒子分析仪、恒温反应系统及方法

权利要求书

1.一种恒温反应系统,其特征在于包括：

用于为反应物提供反应场所的反应池；

用于将荧光染料输送到反应池的染料管，所述染料管的一端与反应池 连通；

恒温控制装置，所述恒温控制装置、反应池和染料管经配置使所述恒 温控制装置控制所述反应池和染料管的温度为设定温度。

2.如权利要求1所述的恒温反应系统，其特征在于：所述恒温控制 装置包括温度控制电路、温度传感器和变温器，所述温度传感器和变温器 分别和温度控制电路相连，所述温度传感器用于感应所述反应池的温度， 所述温度控制电路响应温度传感器的输出，控制变温器改变温度，所述变 温器与所述反应池接触并与反应池之间进行热交换，所述染料管与反应池 接触并使染料与反应池之间进行热交换。

3.如权利要求2所述的恒温反应系统，其特征在于：所述反应池包 括主板和位于主板内部的至少一个孵育池，所述主板的外壁向内设有凹 槽，所述染料管容纳于所述凹槽内，所述染料管的一端与孵育池连通。

4.如权利要求3所述的恒温反应系统，其特征在于：所述凹槽为曲 线状，所述凹槽的一端延伸到所述主板的外壁的边缘，另一端延伸到所述 染料管与孵育池的连通处。

5.如权利要求3或4所述的恒温反应系统，其特征在于：还包括用 于将所述染料管固定在所述凹槽内的压环。

6.如权利要求2所述的恒温反应系统，其特征在于：所述反应池包 括主板和位于主板内部的至少一个孵育池，在所述主板的板壁内开有通 道，所述染料管容纳于所述通道内，所述染料管的一端与孵育池连通。

7.如权利要求1所述的恒温反应系统，其特征在于：所述恒温控制 装置包括用于控制所述反应池温度的第一恒温控制装置和用于控制所述 染料管温度的第二恒温控制装置。

8.如权利要求1所述的恒温反应系统，其特征在于：所述恒温控制 装置包括温度控制电路、温度传感器和恒温箱，所述温度传感器和恒温箱 分别和温度控制电路相连，所述温度控制电路响应温度传感器的输出，控 制恒温箱改变温度，所述反应池和染料管位于恒温箱内。

9.一种恒温反应方法，其特征在于包括：对进入反应池之前的荧光 染料进行恒温控制的步骤。

10.如权利要求9所述的恒温反应方法，其特征在于：对进入反应池 之前的荧光染料进行恒温控制步骤包括：

采用同一恒温控制装置控制进入反应池之前的荧光染料和反应池的 温度为设定温度。

11.如权利要求9所述的恒温反应方法，其特征在于：对进入反应池 之前的荧光染料进行恒温控制步骤包括：采用独立的恒温控制装置控制所 述荧光染料的温度为设定温度。

12.如权利要求10所述的恒温反应方法，其特征在于：采用同一恒 温控制装置控制进入反应池之前的荧光染料和反应池的温度为设定温度 步骤包括：

恒温控制装置控制所述反应池的温度为设定温度；

使用于将荧光染料输送到反应池的染料管与反应池之间进行热交换。

13.一种粒子分析仪，包括流动室，其特征在于还包括如权利要求1 至8中任一项所述的恒温反应系统，所述恒温反应系统的输出口与流动室 的入口连通，用于将被检测物输送到流动室。