[发明专利]确定用于检测HARQ-ACK信号的参数的方法和装置有效

专利信息
申请号: 200910109478.7 申请日: 2009-08-19
公开(公告)号: CN101997638A 公开(公告)日: 2011-03-30
发明(设计)人: 范叔炬;李靖;马雪利;王宗杰;刘铮 申请(专利权)人: 华为技术有限公司
主分类号: H04L1/00 分类号: H04L1/00;H04L1/18;H04L1/16
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518129 广东*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 确定 用于 检测 harq ack 信号 参数 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种确定用于检测混合自动重传请求-确认HARQ-ACK信号的参数的方法,其特征在于,包括:

获取平均无线链路控制层重传概率PRLC和平均额外物理层重传概率Pe-PHY的性能要求;

根据所述PRLC和所述Pe-PHY的性能要求确定用于检测所述HARQ-ACK信号的参数。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:

根据公式获取所述PRLC;并且,

根据公式获取所述Pe-PHY;其中,

所述StreamNum每个传输时间间隔TTI中,Node B向用户设备UE发送的数据块的数目;所述U和所述V分别表示所述信号集合Ω中的一个HARQ-ACK信号,所述P(U)表示对所述StreamNum个数据块反馈信号U的概率,P(U,V)表示发送信号U被错误检测为V的概率;所述We-PHY(U,V)表示在所述UE发送U,被所述Node B检测为V时,导致额外物理层e-PHY重传的数目;所述WRLC(U,V)表示在所述UE发送U,被所述NodeB检测为V时,导致无线链路控制层RLC重传的数目。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:

根据获取所述PRLC;并且

根据获取Pe-PHY

其中,StreamNum每个传输时间间隔TTI中,Node B向用户设备UE发送数据块的数目;NRLC表示K个TTI出现无线链路控制层重传错误的数目;Ne-PHY表示K个TTI出现额外物理层重传错误的数目;K为大于等于1的正整数。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,

所述PRLC为Node B平均每发送一个非重传数据块,用户设备UE接收所述数据块并反馈所述HARQ-ACK信号,所述Node B对所述HARQ-ACK信号译码错误导致需要对该数据块进行RLC重传的概率;

所述Pe-PHY为所述Node B平均每发送一个非重传数据块,所述UE接收所述数据块并反馈所述HARQ-ACK信号,所述Node B对所述HARQ-ACK信号检测错误导致需要对该数据块进行额外物理层重传的概率。

5.根据权利要求1-4任意一项所述的方法,其特征在于,用于检测所述HARQ-ACK信号的参数为满足所述PRLC和所述Pe-PHY的性能要求的功率偏置或接收信噪比SNR或门限因子T或虚警概率;其中,所述功率偏置为所述HARQ-ACK的接收信噪比SNR和参考信道接收功率的比值。

6.根据权利要求1-4任意一项所述的方法,其特征在于,根据所述PRLC和所述Pe-PHY的性能要求确定用于检测所述HARQ-ACK信号的参数包括:

根据所述PRLC和所述Pe-PHY的性能要求以及一个预定的门限因子T确定用于检测所述HARQ-ACK信号的功率偏置。

7.根据权利要求6任意一项所述的方法,其特征在于,根据所述PRLC和所述Pe-PHY的性能要求以及一个预定的门限因子T确定用于检测所述HARQ-ACK信号的功率信息包括:

根据所述预定的门限因子T确定所述PRLC与接收信噪比SNR以及所述Pe-PHY与所述SNR的函数关系;

根据所述PRLC与所述SNR以及所述Pe-PHY与所述SNR的函数关系确定满足所述PRLC与所述Pe-PHY的性能要求的SNR;

根据满足所述PRLC与所述Pe-PHY的性能要求的SNR确定所述HARQ-ACK信号的功率偏置。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华为技术有限公司,未经华为技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910109478.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top