[发明专利]地形校正植被指数的构造方法

权利要求书

1.一种地形校正植被指数的构造方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：

(1)根据获得的光学遥感影像数据源，进行不同程度的辐射校正；

(2)对非植被暗物质进行判别与处理；

(3)进行地形校正植被指数TCVI的计算；

步骤(1)按照以下方法进行辐射校正：如果有辐射亮度计算参数，则可以从遥感影像各波段数据的DN值计算出有关波段数据的辐射亮度值；如果进一步有关于表观反射率的计算参数，则可进一步计算出有关波段的大气层顶表观反射率，辐射校正可以提高地形校正植被指数的最终反演精度，因此第一步根据源数据的具体情况尽可能求得表观反射率结果，其次为辐射亮度结果，最差则直接利用影像数据的DN值； 

步骤(2)按照以下方法判断和处理暗物质：如果研究区没有水体或者居民区等暗物质则直接转入第三步处理，如果有水体或者居民区等非植被的暗物质存在，则进行掩膜处理；

步骤(3)按照以下方法计算地形校正植被指数TCVI：

阴影植被指数SVI＝[MAX(ρr)-ρr]/ρr…………………………………………………………(1)

归一化植被指数NDVI＝(ρnir-ρr)/(ρnir+ρr)………………………………………………(2)

比值植被指数RVI＝ρnir/ρr ……………………………………………………………………(3)

其中：ρr-红波段的表观反射率值， 

MAX(ρr)-研究区红波段表观反射率的最大值，

ρnir-近红外波段的表观反射率值， 

由此推导地形校正植被指数TCVI公式如下：

TCVI＝CVI+TCC*SVI…………………………………………………………………………………(4)

其中TCC-地形校正因子，

由于常用植被指数CVI主要有归一化植被指数NDVI和比值植被指数RVI，因此公式(4)可演化为(5)和(6)：

TCNDVI＝NDVI+TCC*SVI ……………………………………………………………………………(5)

TCRVI＝RVI+TCC*SVI ………………………………………………………………………………(6)

所述地形校正因子TCC采用地统计学方法确定，方法如下：首先，分析遥感影像地物特征，区分影像中的阴坡与阳坡；其次，进行野外实地考察、或者利用有关部门的地面调查数据，确定植被类型与长势一致的阴坡与阳坡空间位置与分布范围；然后，令他们的TCVI值相等，由于CVI和SVI值已知，由公式(4)即可确定TCC最优值。

2.根据权利要求1所述的地形校正植被指数的构造方法，其特征在于：所述辐射亮度计算参数为传感器各波段的Gain和Bias参数。

3.根据权利要求1所述的地形校正植被指数的构造方法，其特征在于：所述表观反射率的计算参数为大气层顶相应波长的太阳光谱辐照度参数。

4.根据权利要求1所述的地形校正植被指数的构造方法，其特征在于：掩膜处理可以采用非监督分类、监督分类、归一化植被指数NDVI阈值判别和目视解译的方法进行。