[发明专利]MOCVD设备内石墨基座的清洗方法有效
申请号: | 200910114915.4 | 申请日: | 2009-02-09 |
公开(公告)号: | CN101502835A | 公开(公告)日: | 2009-08-12 |
发明(设计)人: | 刘军林;江风益;郑锐华 | 申请(专利权)人: | 晶能光电(江西)有限公司 |
主分类号: | B08B3/08 | 分类号: | B08B3/08;B08B1/00;C23C16/18 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 330029江西省南*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | mocvd 设备 石墨 基座 清洗 方法 | ||
1.一种MOCVD设备内石墨基座的清洗方法,其特征在于包括以下步骤:
煮酸:将石墨基座放入磷酸中煮,至石墨基座表面上的附着物被去除干净后取出,其中,所述煮酸步骤还包括刷去石墨基座表面的附着物;
冲水:用热去离子水清洗煮好的石墨基座,去除石墨基座上的酸性物质;
干燥:干燥石墨基座,至石墨基座上无水份,其中,所述干燥步骤包括用烘烤方式干燥石墨基座。
2.根据权利要求1所述的MOCVD设备内石墨基座的清洗方法,其特征在于:在进行所述煮酸步骤后,用吸酸擦酸的物品吸去石墨基座上酸液,再进行所述冲水步骤。
3.根据权利要求1所述的MOCVD设备内石墨基座的清洗方法,其特征在于,所述煮酸步骤包括:将石墨基座放入磷酸中煮一段时间,然后取出刷石墨基座,将石墨基座上的部分附着物去掉,再放入磷酸中继续煮。
4.根据权利要求1所述的MOCVD设备内石墨基座的清洗方法,其特征在于:所述冲水步骤包括荡洗和冲洗步骤;其中荡洗步骤包括:
对石墨基座的正面和反面进行荡洗,然后用吸酸擦酸的物品对石墨基座进行拭擦,再继续荡洗。
5.根据权利要求4所述的MOCVD设备内石墨基座的清洗方法,其特征在于,所述荡洗步骤包括:
先依次将石墨基座的正面、反面、再正面荡洗一遍,重复上述过程5遍;然后用吸酸擦酸的物品对石墨基座进行拭擦;再荡洗一遍。
6.根据权利要求4所述的MOCVD设备内石墨基座的清洗方法,其特征在于,所述冲洗步骤包括:将荡洗好的石墨基座放入冲水槽中,用热去离子水冲洗,且冲洗过程中需要取出荡洗擦吸。
7.根据权利要求4或5所述的MOCVD设备内石墨基座的清洗方法,其特征在于:所述吸酸擦酸的物品是脱脂棉花、化学品吸附棉、无尘纸中任一种。
8.根据权利要求1所述的MOCVD设备内石墨基座的清洗方法,其特征在于:所述干燥步骤包括先将石墨基座吹干,再进行烘烤。
9.根据权利要求4所述的MOCVD设备内石墨基座的清洗方法,其特征在于:所述荡洗的水温为55摄氏度~65摄氏度,所述冲洗的水温为70摄氏度~100摄氏度。
10.根据权利要求1所述的MOCVD设备内石墨基座的清洗方法,其特征在于:所述煮酸的温度在80摄氏度~150摄氏度;所述烘烤的温度在60摄氏度~180摄氏度。
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