[发明专利]半导体装置及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200910118292.8 申请日: 2009-03-03
公开(公告)号: CN101626001A 公开(公告)日: 2010-01-13
发明(设计)人: 鹿野武敏 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H01L23/48 分类号: H01L23/48;H01L23/31;H01L21/60;H01L21/56
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 闫小龙;李家麟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 半导体 装置 及其 制造 方法
【说明书】:

技术领域

本发明涉及半导体装置,特别是涉及具有半导体芯片和树脂密封部 的半导体装置。

背景技术

作为逆变器(inverter)用途的半导体装置,有IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor,绝缘栅双极晶体管)和续流二极管(Free Wheel Diode) 等的通过模塑树脂和绝缘片将多个半导体元件密封的功率模块。例如在 日本专利申请公开2006-319084号公报中公开了一种这样的功率模块。

此外,作为被树脂密封的半导体装置的小型化技术,例如有在日本 专利申请公开2003-007966号公报中公开的技术。根据该技术,半导体装 置具备:散热衬底;配置在散热衬底上的半导体元件;各自的一端与该 半导体元件的主电极电连接的多个主电极板;对散热衬底、半导体元件、 以及多个主电极板进行树脂密封的树脂封装件。多个主电极板的每一个 的另一端在树脂封装件的上表面侧向外部露出。树脂封装件通过模塑成 形而整体地形成。

在上述日本专利申请公开2003-007966号公报的技术中,由于半导体 芯片表面的电极和主电极板通过引线接合而连接,所以必须确保引线接 合所需要的区域,存在半导体装置的进一步小型化困难的问题。此外, 为了将主电极从半导体芯片表面正上方的树脂封装件面(上表面侧)取 出,需要特殊的模具,存在招致制品成本上升的问题。

发明内容

因此,本发明的目的在于比较廉价地提供一种能够进一步小型化的 半导体装置。

本发明的半导体装置具有:半导体芯片;导电部;密封树脂部;电 极。半导体芯片具有主面。导电部设置在主面上,并且由具有导电性和 延展性的材料构成。密封树脂部具有与主面正对的表面。电极设置在导 电部上,并且在导电部和表面之间贯通密封树脂部。

本发明的半导体装置的制造方法,具有以下工序:

首先准备具有主面的半导体芯片。在该主面上,形成由具有导电性 和延展性的材料构成的导电部。将形成了该导电部的半导体芯片配置在 模具内。模具具有:相对于主面空出间隔而相向的内面;和以按压导电 部的方式从内面突起的突起部。通过在模具内填充树脂后除去模具,形 成密封树脂部,该密封树脂部具有:与主面正对的表面;和贯通导电部 和表面之间的开口部。

根据本发明的半导体装置,

因为能够在半导体芯片的主面上的区域中设置电极,所以能够使半 导体装置小型化。

此外因为导电部设置在半导体芯片的主面上,所以在平面设计中除 了半导体芯片的区域以外不需要确保用于设置导电部的区域。因此能够 进一步使半导体装置小型化。

本发明的上述和其它的目的、特征、方面、以及优点,通过与附图 相关地理解的关于本发明的下面的详细的说明就能清楚了。

附图说明

图1是概略地表示本发明的实施方式1的半导体装置的结构的剖面 图。

图2是概略地表示本发明的实施方式1的半导体装置的结构的平面 图。

图3是与在未图示模塑树脂的情况下的图2对应的图

图4是概略地表示本发明的实施方式1的半导体装置的电路结构的 图。

图5是概略地表示本发明的实施方式1的半导体装置的制造方法的 第一工序的平面图。

图6~图9是概略地顺序地表示本发明的实施方式1中的半导体装置 的制造方法的第一~第四工序的剖面图。

图10是概略地表示比较例的半导体装置的结构的剖面图。

图11是概略地表示本发明的实施方式2的半导体装置的结构的平面 图。

图12是沿图11的XII-XII线的剖面图。

图13是概略地表示本发明的实施方式3的半导体装置的结构的剖面 图。

具体实施方式

下面,基于附图对本发明的实施方式进行说明。

实施方式1

首先,使用图1~图4对本实施方式的半导体装置的结构进行说明。 再有,图2和图3的各自的I-I线表示图1的剖面位置。

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