[发明专利]光学拾取设备以及记录再生装置

权利要求书

1.一种光学拾取设备，其特征在于，包括：

近场光学系统，其数值孔径为NA＞1；

第1以及第2光源，发射第1波长以及第2波长的光；

光学系统，对上述第1以及第2波长的光进行合波，并照射到至少 具有两层记录层的光记录介质；

第1以及第2光检测器，检测上述第1以及第2波长的光所引起的 来自上述光记录介质的返回光；

控制部，利用由上述第2波长的光所引起的来自上述光记录介质的 返回光而获得与上述近场光学系统的透镜端面和上述光记录介质表面 之距离相应的信号，并利用由上述第1波长的光所引起的来自上述光记 录介质的返回光而获得上述光记录介质的再生信号和跟踪信号、以及与 上述光记录介质的各记录层相对应的焦点信号；以及

焦点位置调整机构，由上述焦点信号控制，被配置在上述第1波长 的光的光路中，使上述光记录介质中的上述第1波长的光的焦点位置进 行移动，

上述光学系统具有进行调整以使上述第2波长的光的焦点吻合于上 述第2波长的光的光路上的不同媒介间的边界以外的位置的光学透镜， 该光学透镜被配置在上述光学系统内的上述第1以及第2波长的光被合 波之前的上述第2波长的光的光路上。

2.按照权利要求1所述的光学拾取设备，其特征在于：

上述焦点信号的检测是利用被除去NA＜1的分量的光而进行检测。

3.按照权利要求2所述的光学拾取设备，其特征在于：

上述第2波长的光的焦点位置存在于上述记录介质内部。

4.按照权利要求1所述的光学拾取设备，其特征在于：

上述第1波长与上述第2波长不同。

5.一种记录再生装置，其特征在于，包括：

光学拾取部，其具有：数值孔径为NA＞1的近场光学系统；发射 第1波长以及第2波长的光的第1以及第2光源；对上述第1以及第2 波长的光进行合波，并照射到至少具有两层记录层的光记录介质的光学 系统；检测上述第1以及第2波长的光所引起的来自上述光记录介质的 返回光的第1以及第2光检测器；利用由上述第2波长的光所引起的来 自上述光记录介质的返回光而获得与上述近场光学系统的透镜端面和 上述光记录介质表面之距离相应的信号，并利用由上述第1波长的光所 引起的来自上述光记录介质的返回光而获得上述光记录介质的再生信 号和跟踪信号、以及与上述光记录介质的各记录层相对应的焦点信号的 控制部；以及由上述焦点信号控制，被配置在上述第1波长的光的光路 中，使上述光记录介质中的上述第1波长的光的焦点位置进行移动的焦 点位置调整机构；

上述光记录介质的安装部；以及

使上述安装部与上述光学拾取部相对地进行移动的驱动部，

上述光学系统具有进行调整以使上述第2波长的光的焦点吻合于上 述第2波长的光的光路上的不同媒介间的边界以外的位置的光学透镜， 该光学透镜被配置在上述光学系统内的上述第1以及第2波长的光被合 波之前的上述第2波长的光的光路上。