[发明专利]电压检测电路以及开关电源装置

说明书

技术领域

本发明涉及从检测节点导出电压进行电压检测的电压检测电路，以及根据 该电压检测电路的电压输出来进行开关元件的控制动作的开关电源装置。

背景技术

例如，在回扫式开关电源装置(flyback Switching Power Supply)中，如 图6所示，存在采用了如下结构的开关电源装置：检测出由功率MOSFET等 构成的同步整流元件SW52的漏极·源极间电压Vds52，根据该电压来进行同 步整流元件SW52的接通·断开控制。

在这种开关电源装置中，如图7的时间图所示，在同步整流元件SW52 为断开状态时(栅极电压Vgs52为低电平时)，同步整流元件SW52的漏极端 子的电压Vds52是将输出电压Vo、与相应于输入电压Vin的绕线比的量的电 压Vin/N相加而得的高电压。

一般在进行附加了上述那样的高电压的检测点的电压检测时，采用使检测 电路51由高耐压的元件构成的方法，或者如图6所示，采用将使用分压电路 R51、R52或下拉(pull down)电阻而下降了的电压输入到检测电路51中来 进行检测的方法。

在专利文献1中，为了检测输出电压，展示了这样的电路：通过分压电路 使输出电压下降，将该降压后的电压输入到分路调节器(shunt regulator)中来 生成基准电压。

专利文献1：特开2004-129364号公报

发明内容

但是，如果经由如图6所示那样的分压电路R51、R52将检测节点的电压 Vds52导向检测电路51，则如图7(a)、(b)所示，将在电压Vds52的从高范 围到低范围内一律进行了分压后的检测电压Vdet50输入到检测电路51中。因 此，在检测节点的电压Vds52为低电压、而且电压变化变小的期间T50中， 将通过分压而进一步使得电压变化减小了的检测电压Vdet50被输入到检测电 路51中。

这里，检测电路51检测在期间T50中检测电压Vdet50达到预定的阈值电 压(例如比电压零略低的电压)Vth的时刻。在该情况下，通过分压电路R51、 R52，检测电压Vdet50的电压变化进一步减小，因此产生了上述时刻的检测 精度降低的问题。

另外，在检测电路51的输入端子会产生例如MOSFET的栅极电容等寄生 电容Ca。因此，当存在图6那样的分压电路R51、R52时，存在这样的问题： 通过该电阻R51和寄生电容Ca形成了时间常数电路，由于该检测节点的电压 Vds52通过该时间常数电路，因此检测电压Vdet50产生波形钝化。另外，当 分压电路R51、R52导致增大电压下降量时，需要使检测节点侧的电阻R51 为电阻值大的电阻，因此即使是寄生电容Ca在某种程度上较小，时间常数电 路的时间常数也是很大的值。并且，若检测电压Vdet50产生了波形钝化，则 存在电压的检测时刻会产生延迟的问题。

本发明的目的在于提供一种即使是在输出例如电位差大的电压的检测点 进行电压检测的情况下，也无需使检测元件高耐压、且不会使检测精度降低的 电压检测电路。

本发明的另一目的在于提供一种通过上述的电压检测电路实现精度高的 电源动作、能够实现高效率的电压输出的开关电源装置。

为了达到上述目的，本发明第一方面的发明为一种电压检测电路，其从检 测节点导出电压进行电压检测，其特征在于，具备：在从所述检测节点到基准 电位之间依次串联连接的第一电阻、第二电阻以及第一开关元件；和检测电路， 其从所述第一电阻和所述第二电阻的连接点输入电压来进行电压的检测动作， 根据所述检测节点的电压生成的控制电压被提供给所述第一开关元件的控制 端子，在所述检测节点的电压大的时候所述第一开关元件接通，在所述检测节 点的电压小的时候，所述第一开关元件断开。

第二方面所述的发明在第一方面所述的电压检测电路中，其特征在于，向 所述第一开关元件的控制端子输入所述第一电阻和所述第二电阻的连接点的 电压。

第三方面所述的发明在第一或第二发明所述的电压检测电路中，其特征在 于，所述电压检测电路还具有：连接在所述检测节点与所述第一电阻之间的第 三电阻；和连接在所述第一电阻和所述第三电阻的连接点、与所述检测电路的 输入端子之间的第二开关元件，所述第一开关元件接通时所述第二开关元件断 开，另一方面，所述第一开关元件断开时所述第二开关元件接通。