[发明专利]基板处理装置有效

专利信息
申请号: 200910127043.5 申请日: 2009-03-13
公开(公告)号: CN101615566A 公开(公告)日: 2009-12-30
发明(设计)人: 高柳康治;吉原孝介 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 代理人: 龙 淳
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 处理 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种例如在半导体晶片或FPD(平板显示器)基板等 基板上形成例如抗蚀剂等的处理膜的基板处理装置。

背景技术

一般情况下,在半导体元器件的制造中,为了在例如半导体晶片 和FPD基板这样的基板上涂敷感光剂,对掩膜图形进行曝光处理然后 形成电路图形,使用了光刻技术。在该光刻技术中,使用旋涂法在晶 片上涂敷抗蚀剂,按照规定的电路图形对由此形成的抗蚀剂膜进行曝 光,并对该曝光图形进行显像处理,由此在抗蚀剂膜上形成电路图形。

一般情况下,在旋涂法中,为了接受飞散的抗蚀剂,在由外罩和 内罩构成的涂料器罩内使晶片等基板旋转。

此外,为了防止从基板的边缘部分飞散的抗蚀剂变成雾状,在罩 的上方飞舞,而附着在周围的装置或仪器上产生污染,从罩的底部进 行排气。

此外,在采用使基板高速旋转的抗蚀剂涂敷装置的情况下,为了 抑制基板周边部的抗蚀剂膜隆起的现象,采用一种在外罩与内罩之间 配置控制晶片附近气流的气流控制板的构造(例如,特开2001-189266 号公报)。

出于回收液雾的目的,现有的罩排气设定排出(供给)抗蚀剂和 清洗液时的排气压力。此外,多个抗蚀剂涂敷装置的排气部与工厂的 排气系统连接,气体被向工厂外排出。

但是,存在以下问题,即随着处理能力的提高,需要增加涂料器 罩的安装数量,这样排气量就会相应地增加,工厂的排气容量变得紧 张。为了解决这个问题,考虑降低排气量,但是,为了达到防止排出 抗蚀剂和清洗液时的液雾的目的,却不能降低排气量。

发明内容

发明的目的在于提供一种既能形成均一性高的处理膜,同时能够 防止液雾,并且能够提高工厂的排气效率的基板处理装置。

本发明提供一种基板处理装置,它是一种向旋转的被处理基板的 表面供给处理液,使处理液扩展后形成处理膜的基板处理装置,它具 备在水平姿势下保持被处理基板的保持单元、使被处理基板在水平面 内旋转的旋转机构、向被处理基板的表面供给处理液的处理液供给喷 嘴、以及收纳前述保持单元并且在底部与排气装置连接的处理罩,前 述处理罩包括:具有包围由前述保持单元所保持的上述被处理基板的 外侧的外侧壁部的外罩、具有位于被处理基板的外周部下方的内侧壁 部的内罩、外周部被固定在前述外罩的外侧壁部的内周面上,同时内 周部位于与被处理基板的外周边缘之间保持间隙的位置,并且,具有 连通前述外罩的上部与前述内罩的外侧的多个通气孔的中间罩、开闭 前述中间罩的通气孔的开闭部件、以及开闭移动前述开闭部件的开闭 移动机构,在向被处理基板供给处理液时,利用前述开闭部件封闭前 述通气孔,阻断气流通过前述通气孔,在处理液供给后的处理膜形成 时,开放前述通气孔,容许气流通过前述通气孔。

在此情况下,前述通气孔最好以相等的间隔设置成同心圆形状。

在本发明中,前述外罩包括具有构成前述外侧壁部的一部分的可 动外侧壁部的上部罩体,前述开闭部件具有外周部被固定在上述上部 罩体的可动外侧壁部的内周面上,内周部可抵接在上述中间罩中的相 比通气孔的内周侧面上的环形圆板状部件,前述开闭移动机构具有升 降移动前述上部罩体的升降机构。在此情况下,对于前述开闭部件, 只要其内周部能够抵接前述中间罩中的相比通气孔的内周侧面,其设 置方式并无限定,但是最好在其内周部安装能够与前述中间罩的上面 接触的可挠性密封部件。

在本发明中,前述开闭部件具有能够开闭各个通气孔的上端开口 部的多个棒状部件和连结各个棒状部件的连结部件,前述开闭移动机 构具有升降前述连结部件的升降机构。在此情况下,前述棒状部件优 选下端封闭部具有能够插入上述通气孔内的狭小圆锥面。

在本发明中,前述外罩具有连通前述通气孔与前述外罩的外方一 侧并且在与外侧壁部之间设置环状进气口的外装罩体,前述开闭部件 具有能够开闭前述环状进气口的环状部件,前述开闭移动机构具有升 降移动前述环状部件的升降机构。

在本发明中,前述多个通气孔既可以形成相同的圆形,也可以形 成相同的椭圆形。

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