[发明专利]整合型无源元件及其制造方法有效
申请号: | 200910128829.9 | 申请日: | 2009-03-12 |
公开(公告)号: | CN101834178A | 公开(公告)日: | 2010-09-15 |
发明(设计)人: | 苏清辉;杨学安 | 申请(专利权)人: | 日月光半导体制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/01 | 分类号: | H01L27/01;H01L27/04;H01L27/12;H01L21/02 |
代理公司: | 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 | 代理人: | 翟羽 |
地址: | 中国台湾高雄*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 整合 无源 元件 及其 制造 方法 | ||
1.一种整合型无源元件,其特征在于:所述整合型无源元件包含:
一基板;
一第一绝缘层,堆迭于所述基板的上表面,所述第一绝缘层内具有一第一电路层,所述第一电路层包含至少一电容结构及至少一电阻结构;
一第二绝缘层,堆迭于所述第一绝缘层上,所述第二绝缘层内具有一第二电路层,所述第二金属层的厚度介于5至50微米之间,所述第二电路层与所述第一电路层电性连接,并且形成至少一第一电感结构;及
一第三绝缘层,堆迭于所述第二绝缘层上,所述第三绝缘层内具有一第三电路层,所述第三金属层的厚度介于5至25微米之间,所述第三电路层与所述第二电路层电性连接,并且形成至少一第二电感结构,所述第三绝缘层另具有数个开口,以裸露所述第三电路层的一部分表面并形成数个接垫。
2.如权利要求1所述的整合型无源元件,其特征在于:所述第一、第二及第三绝缘层为低介电值材料,所述低介电值材料选自聚亚酰胺或苯环丁烯。
3.如权利要求1所述的整合型无源元件,其特征在于:所述基板为硅基板或玻璃基板。
4.如权利要求1所述的整合型无源元件,其特征在于:所述接垫另电性连接至少一倒装型芯片或至少一打线型芯片。
5.如权利要求1所述的整合型无源元件,其特征在于:所述基板另包含数个导电通孔,其贯穿所述基板的上表面及下表面。
6.如权利要求1所述的整合型无源元件,其特征在于:每一所述接垫上形成一金属球或连接一金属线。
7.如权利要求1所述的整合型无源元件,其特征在于:所述第一金属层的厚度介于0.1至2微米之间。
8.一种整合型无源元件的制造方法,其特征在于:所述制造方法包含步骤:
在一基板的上表面形成一第一电路层,所述第一电路层包含至少一电容结构及至少一电阻结构;
形成一第一绝缘层,以覆盖所述第一电路层;
在所述第一绝缘层上形成一第二电路层,所述第二金属层的厚度介于5至50微米之间,所述第二电路层电性连接所述第一电路层,并包含至少一第一电感结构;
形成一第二绝缘层,以覆盖所述第二电路层;
在所述第二绝缘层上形成一第三电路层,所述第三金属层的厚度介于5至25微米之间,所述第三电路层电性连接所述第二电路层,并包含至少一第二电感结构;以及
形成一第三绝缘层,以覆盖所述第三电路层,并使所述第三绝缘层形成数个开口,以裸露所述第三电路层的一部分表面及形成数个接垫。
9.如权利要求8所述的整合型无源元件的制造方法,其特征在于:在形成所述第一电路层的步骤中,另在所述基板的下表面形成一不透光金属层。
10.如权利要求8所述的整合型无源元件的制造方法,其特征在于:所述第一金属层的厚度介于0.1至2微米之间。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的