[发明专利]相位检测模块以及相关的相位检测方法

权利要求书

1.一种相位检测模块，包含：

一相位检测单元，用来比较一第一输入信号以及一第二输入信号以产生一相位检测结果；

一比较器，耦接于该相位比较单元，用来比较该相位检测结果以及一预定电压以产生一比较结果；以及

一计数器，用以计数该第一输入信号以及该第二输入信号其中之一以产生一计数值，其中该计数值达到一预定值时该相位检测结果被重置且该计数值亦被重置，该计数值达到该预定值时该比较结果从该比较器被输出至一目标元件。

2.如权利要求1所述的相位检测模块，特征在于该相位检测单元包含有：

一电容；

一相位检测器，用来依据该第一输入信号以及该第二输入信号以产生一上升信号或一下降信号；以及

一电荷泵，用来依据该上升信号或该下降信号以相对应的对该电容进行充放电以产生该相位检测结果；

其中当该计数值达到该预定值时，该电容被耦接至一预定电位以重置该相位检测结果。

3.如权利要求2所述的相位检测模块，特征在于该相位检测模块包含：

一第一开关，耦接于该电容以及一预定电位，当该计数值未达到该预定值时为不导通状态，而当该计数值达到该预定值时为导通状态以将该电容耦接至该预定电位来重置该相位检测结果；以及

一第二开关，耦接至该比较器的一输出端，当该计数值达到该预定值后为不导通状态，而当该计数值未达到该预定值时为导通状态以输出该比较结果至该目标元件。

4.如权利要求3所述的相位检测模块，还包含一控制信号产生单元，耦接至该计数器以根据该计数值产生一控制信号，其中当该计数值达到该预定值时该控制信号具有一第一电平，而当该计数值未达到该预定值时该控制信号具有一第二电平，当该控制信号具有该第一电平时，该第一开关为导通而该第二开关为不导通，当该控制信号具有该第二电平时，该第一开关为不导通而该第二开关为导通。

5.如权利要求3所述的相位检测模块，特征在于该目标元件为一寄存器，用以在该第二开关为不导通状态时暂存该比较结果。

6.一种相位检测方法，包含：

(a)比较一第一输入信号以及一第二输入信号以产生一相位检测结果；

(b)比较该相位检测结果以及一预定电压以产生一比较结果；以及

(c)计数该第一输入信号以及该第二输入信号其中之一以产生一计数值，其中该计数值达到一预定值时该相位检测结果被重置且该计数值亦被重置，该计数值达到该预定值时该比较结果从该比较器被输出至一目标元件。

7.如权利要求6所述的相位检测方法，特征在于该步骤(b)包含有：

依据该第一输入信号以及该第二输入信号以产生一上升信号或一下降信号；以及

依据该上升信号或该下降信号以相对应的对该电容进行充放电以产生该相位检测结果；

其中当该计数值达到该预定值时，该电容被耦接至一预定电位以重置该相位检测结果。

8.如权利要求7所述的相位检测方法，特征在于该相位检测方法包含：

提供一第一开关使其耦接于该电容以及一预定电位，当该计数值未达到该预定值时使该第一开关为不导通状态，而当该计数值达到该预定值时使该第二开关为导通状态以将该电容耦接至该预定电位来重置该相位检测结果；以及

提供一第二开关，当该计数值达到该预定值后为不导通状态，并且该比较结果不会继续输出至该目标元件的输入端，而当该计数值未达到该预定值时为导通状态以输出该比较结果至该目标元件的该输入端。

9.如权利要求8所述的相位检测方法，还包含根据该计数值产生一控制信号，其中当该计数值达到该预定值时该控制信号具有一第一电平，而当该计数值未达到该预定值时该控制信号具有一第二电平，当该控制信号具有该第一电平时，该第一开关为导通而该第二开关为不导通，当该控制信号具有该第二电平时，该第一开关为不导通而该第二开关为导通。

10.如权利要求8所述的相位检测方法，特征在于该目标元件为一寄存器，用以在该第二开关为导通状态时暂存该比较结果，并在第二开关为不导通状态时锁住比较结果。