[发明专利]一种产生测试用例的方法及装置有效
申请号: | 200910131169.X | 申请日: | 2009-04-07 |
公开(公告)号: | CN101859273A | 公开(公告)日: | 2010-10-13 |
发明(设计)人: | 唐文 | 申请(专利权)人: | 西门子(中国)有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100102 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 产生 测试 方法 装置 | ||
1.一种产生测试用例的方法,包括:
根据预先设置的测试用例生成规则进行穷举,得到大量测试用例;
计算所述测试用例之间的近似程度,并根据所述测试用例之间的近似程度删除多余的测试用例。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:
所述测试用例生成规则包括:正则表达式和用于限制测试用例长度的阈值。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于:
所述进行穷举包括:构造有限自动机,所述有限自动机中的每一个状态代表所述正则表达式中的一个元素,对所述有限自动机进行遍历,产生符合所述正则表达式以及用于限制测试用例长度的阈值的测试用例。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述计算测试用例之间的近似程度包括:
采用近似串匹配算法计算任意两个测试用例之间的距离,根据所述距离确定所述两个测试用例之间的近似程度。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据测试用例之间的近似程度删除多余的测试用例包括:
a、构造已知有效测试用例集,在初始化时,将第一个测试用例作为所述已知有效测试用例集中的元素,并将第二个测试用例作为当前测试用例;
b、将当前测试用例与所述已知有效测试用例集中的测试用例进行比较,若已知有效测试用例集中存在与当前测试用例相近似的测试用例,则删除当前测试用例,继续c操作,否则,将当前测试用例加入所述已知有效测试用例集,继续c操作;
c、判断当前测试用例是否为最后一个测试用例,如果是,结束本方法流程,否则,将当前测试用例的下一个测试用例作为当前测试用例返回b。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,该方法进一步包括:预先设置分组长度阈值L、第一距离阈值μ1、第二距离阈值μ2,...,第m距离阈值μm;其中,L为整数,μ1>μ2>...>μm;
所述根据测试用例之间的近似程度删除多余的测试用例包括:
A、构造一个数组,为所述数组中的每一个元素创建一个链表,处于所述链表中的测试用例为有效测试用例,将第一个测试用例作为当前测试用例;
B、按照将所有长度小于等于L的测试用例归为一个组,将所有长度在大于L、且小于等于2L的串归为一个组,依此类推的方式,确定当前测试用例所属的组;
C、将μ1作为当前判断标准,将所述组对应的链表作为当前链表;
D、将当前测试用例与当前链表中的每一个有效测试用例进行比较,若当前测试用例与当前链表中的每一个有效测试用例之间的距离均大于当前判断标准,则将当前测试用例插入当前链表,将当前测试用例的下一个测试用例作为当前测试用例,返回B操作;若当前链表中存在与当前测试用例之间的距离小于等于当前判断标准的有效测试用例,则将当前链表的子链表作为当前链表,并将小于当前判断标准的下一个距离阈值作为当前判断标准,返回D操作。
7.一种用于产生测试用例的装置,包括:
测试用例生成模块(210),用于根据预先设置的测试用例生成规则进行穷举,得到大量测试用例;
测试用例过滤模块(220),用于计算所述测试用例之间的近似程度,并根据所述测试用例之间的近似程度删除多余的测试用例。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,该装置中进一步包括设置模块(230),用于接收用户设置的正则表达式和用于限制测试用例长度的阈值;
所述测试用例生成模块(210),还用于根据所述正则表达式构造每一个状态代表所述正则表达式中的一个元素的有限自动机,并对所述有限自动机进行遍历,产生符合所述正则表达式和用于限制测试用例长度的阈值的测试用例。
9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述测试用例过滤模块(220)进一步包括:距离计算子模块(221)和过滤子模块(222),其中:
所述距离计算子模块(221),用于采用近似串匹配算法计算任意两个测试用例之间的距离,根据所述距离确定所述两个测试用例之间的近似程度;
所述过滤子模块(222),用于根据所述计算得到的距离删除多余的测试用例。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西门子(中国)有限公司,未经西门子(中国)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910131169.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:清洁方法
- 下一篇:低电压源带隙基准电压电路和一种集成电路