[发明专利]多元素测定用金属钨或钽平台石墨管原子吸收光度计

说明书

组建多元素测定用金属钨或钽平台石墨管原子吸收光度计。

本发明设计指导思想是本发明者提出的专利“无标准分析用固定金属钨或钽平 台石墨路原子吸收光度计”(申请号200710097221.5，申请日2007年4月29日)“无标 准分析用横向加热石墨炉恒磁场塞曼原子吸收光度计”(申请号200710097221.X，申请日 2007年4月29日)“固定金属钨或钽平台石墨管新制造方法”(申请号200810093774.8， 申请日2008年4月21日)“带永久基体改进剂的金属钨或钽平台石墨管的制作方法”(申 请号200810134853.9，申请日2008年8月4日)。使用这些专利后，无需建立标准曲线 可直接分析测定复杂液体或固体中待测元素含量和浓度，摆脱通常无机方析经常使用的 费时，困难繁琐的溶样，分离和测定步骤，还可摆脱相应带入的试剂空白和提纯试剂需 要的费时繁琐步骤。

本发明多元素测定用金属钨或钽平台石墨管原子吸收光度计包括：(一)本发 明者提出的专利“无标准分析用横向加热石墨炉恒磁场塞曼原子吸收光度计”使用的钨 或钽平台石墨管(WTaPGT)。(二)或PE公司商品end cap THGA型石墨管，该管在在 PE4100ZL仪器中为水平放置，但在Z^TMGFAAS仪器中水平位置正好是横向磁场的磁铁， 因此必需将该管两端横向石墨加热电极由水平位置改为垂直位置，水平位置即该管按装 在横向磁铁缝隙11mm之间(8)，见附图。上端横向加然石墨电极中心的外氩气进样孔改 造成梯形进样口(1)，对准进样口(1)在石墨管中钻一1.6mm进样孔。(三)WTaPGT或 end cap THGA型石墨管(1)的横向加热是通过上下两平板水冷套(6)和石墨套(3)并紧贴横 向磁铁(8)。石英窗(7)和进样口(2)按装在上水冷套。内氩气管(9)和外氩气管(10)按 装在下水冷套。紧贴横向磁铁(8)两边各一片17.5×17.5×0.4mm热解石墨片(4)插在下 水套的石墨套上。横向磁铁椎部有绝缘层(5)，同样上下水冷套之间也有绝缘层(5)。上 下水冷套都有进出水管(11)，大电流连接片(16)。上下水套固定在底板(12)。上下水冷 套之间通过固定螺丝(13)，拧紧螺丝帽(14)和弹簧(15)保证在原子化加热时石墨管的热胀 冷缩可自动通过弹簧调整，保持大电流通过时接触良好。本石墨炉体密封良好，消耗氩 气少，石墨管烧损少，石墨管寿命长。炉体小巧，热容量小，耗电少同时升温快，容易 达到升温速率2000K/s要求，这两点是商品石墨炉实现无标准分析必不可少要求。

横向磁场可以是永久磁铁(PM)，这就是日立公司拥有专利的商品旋转洛匈棱 镜，横向永久磁铁塞曼石墨炉原子吸收光度计(Z^TMPM，GFAAS)，但日立公司只拥有专 利HGA型石墨炉。本专利将end capTHGA型石墨炉按装在Z^TMPM，GFAAS上，形成 新专利商品仪器(Z^TMPM，end cap THGA，GFAAS)，这是日立公司所未拥有的。本发明 者从1977年开始用日立170-70仪器，1987-1997又用Z8000和Z8100仪器，20年经验表 明；日立HGA型石墨炉有两个缺点，(1)炉体结构和水冷部太大，升温慢，不能达到升 温速率2000K/s要求，由此引起的待测元素和基体在水冷端石墨管的深度冷却，相同元素 在相同基体所需原子化温度在日立HGA型石墨炉比PE的HGA型石墨炉高出200-300℃， 比PE的end capTHGA型高出400-500℃。(2)炉体密封性差，使用高达3l/min氩气石墨 管受空气氧化而烧损，使用寿命低，这两点对实现无标准分析极其不利。

因此，拥有日立仪器的实验室更需要用本专利将老日立仪器改造成新专利仪器 (Z^TMPM，end cap THGA，GFAAS)，才有可能克服上述两个缺点，实现将无标准分析用 于商品石墨炉。